收藏到云盘
纠错反馈
SJ 50597/58-2003 半导体集成电路 JB726型限幅放大鉴频器详细规范
Semiconductor integrated circuits Detail specification for type JB726 limit Amplifier discriminator
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
暂无
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
微电路(L55/59)
半导体集成电路(L56)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
信息产业部电子第四研究所
-
起草单位:
中国电子科技集团公司第二十四所
相关人员
关联标准
-
GB/T 12844-1991
半导体集成电路非线性电路系列和品种 采样/ 保持放大器的品种
-
GB/T 15650-1995
半导体集成电路系列和品种 CMOS门阵列电路系列的品种
-
SJ/Z 11358-2006
集成电路IP核模型分类法
-
GB/T 17865-1999
焦深与最佳聚焦的测量规范
-
GB/T 14129-1993
半导体集成电路TTL电路系列和品种 PAL系列的品种
-
GB/T 3434-1986
半导体集成电路ECL电路系列和品种
-
GB/T 6815-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
-
GB/T 12084-1989
半导体集成电路TTL 电路系列和品种 54/74F系列的品种
-
JB/T 6264.1-1992
半导体集成电路SJ213CP中英文打字机专用电路产品规范
-
SJ 50597/55-2002
半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器详细规范
-
GA/T 1171-2014
芯片相似性比对检验方法
-
GB/T 4377-2018
半导体集成电路 电压调整器测试方法
-
T/CIE 067-2020
工业级高可靠集成电路评价 第1部分:AC/DC电路
-
GB/T 14027.6-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种
-
SJ/T 11702-2018
半导体集成电路 串行外设接口测试方法
-
GB/T 17866-1999
掩模缺陷检查系统灵敏度分析所用的特制缺陷掩模和评估测量方法准则
-
SJ/Z 11355-2006
集成电路IP/SoC功能验证规范
-
GB/T 33657-2017
纳米技术 晶圆级纳米尺度相变存储单元电学操作参数测试规范
-
GB/T 35003-2018
非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
-
SJ/T 11585-2016
串行存储器接口要求