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GB/T 11685-2003 半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法

Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 11685-2003
  • 名称：
    半导体X射线探测器系统和半导体X射线能谱仪的测量方法
  • 英文名称：
    Measurement procedures for semiconductor X-ray detector system and semiconductor X-ray energyspectrometers
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2003-07-07
  • 实施日期：
    2004-01-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    GB/T 11685-1989 GB/T 8992-1988
  • 引用标准：
    GB/T 4079-1994 GB/T 4960.6-1996
  • 采用标准：
    IEC 60759:1983 （非等效采用 NEQ）
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 归口单位：
    核工业标准化研究所
  • 起草单位：
    核工业标准化研究所
  • 提出部门：
    全国核仪器仪表标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准