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GB/T 19403.1-2003 半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)

Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 19403.1-2003
  • 名称：
    半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
  • 英文名称：
    Semiconductor devices--Integrated circuits--Part 11:Section 1:Internal visual examination for semiconductor integrated circuits(excluding hybrid circuits)
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2003-11-24
  • 实施日期：
    2004-08-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    暂无
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 采用标准：
    IEC 60748-11-1:1992 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
  • 起草单位：
    信息产业部第四研究所
相关人员
暂无
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