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GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
光电子学、激光设备（31.260）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
光电子器件（L50/54）
光电子器件综合（L50）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
华禹光谷股份有限公司半导体厂
相关人员
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纤维光学互连器件和无源器件 基本试验和测量程序 第3-4部分:检查和测量 衰减
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