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GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法

Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 15651.3-2003
  • 名称:
    半导体分立器件和集成电路 第5-3部分:光电子器件 测试方法
  • 英文名称:
    Discrete semiconductor devices and integrated circuits--Part 5-3:Optoelectronic devices--Measuring methods
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2003-11-24
  • 实施日期:
    2004-08-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    暂无
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分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 光电子学、激光设备(31.260)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 光电子器件(L50/54) 光电子器件综合(L50)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 2421-1999 IEC 60270:1981
  • 采用标准:
    IEC 60747-5-3:1997 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 归口单位:
    全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门:
    工业和信息化部(电子)
  • 起草单位:
    华禹光谷股份有限公司半导体厂
相关人员
暂无
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