GB/T 19502-2004

表面化学分析 辉光放电发射光谱方法通则

Surface chemical analysis--Glowdischarge optical emission spectrometry(GD-OES)--Introduction to use

现行

国家标准

推荐性

2004-04-30

2004-12-01

暂无

暂无

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本标准等同采用ISO14707:2000《表面化学分析辉光放电发射光谱方法通则》。
本标准在实施应用中,应同时引用ISO3497:1990《金属镀层镀层厚度的测定X射线光谱法》
等相关的技术标准。
本标准的附录A为规范性附录。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。
本标准负责起草单位:宝山钢铁股份有限公司。
本标准主要起草人:张毅、陈英颖、沈电洪、张志颖。

暂无

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
ISO3497:1990金属镀层镀层厚度的侧定X射线光谱法(Metalliccoatings-Measurementofcoatingthickness-X-spectrometricmethods)
ISO5725-1:1994测量方法和结果的准确度(真值和精度)第一部分:基本原理和定义(Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults-Part1:Generalprinciplesanddefinitions)ISO5725-2:1994测量方法和结果的准确度(真值和精度)第二部分:标准测量方法重复性和再现性测定的基本方法Accuracytruenessandprecision)fmeasurementmethodsandresults-Part2:
Basicmethodforthedeterminationofrepeatabilityandreproducibilityofastandardmeasurementmethod)
ISO5725-3:1994测量方法和结果的准确度(真值和精度)第三部分:标准测量方法精密度的中
位测量(Accuracy(truenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults-Part3:Intermediate
measuresoftheprecisionofastandardmeasurementmethod)
ISO5725-4:1994测量方法和结果的准确度(真值和精度)第四部分:标准测量方法真值测定的基本方法ccuracytruenessandprecision)ofmeasurementmethodsandresults-Part4:Basicmethods
forthedeterminationofthetruenessofastandardmeasurementmethod)
ISO6955:1982分析光谱学方法火焰发射、原子吸收和原子荧光词汇(Analyticalspectroscopicmethods-Flameemission,atomicabsorption,andatomicfluorescence-Vocabulary).

ISO 3497-1990 ISO 5725-1:1994 ISO 5725-2:1994 ISO 5725-3:1994 ISO 5725-4:1994 ISO 6955:1982

ISO 14707:2000 （等同采用 IDT）

国家标准化管理委员会

宝山钢铁股份有限公司

全国微束分析标准化技术委员会

全国徽束分析标准化技术委员会