收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 12965-2005 硅单晶切割片和研磨片
Monocrystalline silicon as cut slices and lapped slices
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
元素半导体材料(H82)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位:
中国有色金属工业协会
-
主管部门:
中国有色金属工业协会
-
起草单位:
北京有色金属研究总院
相关人员
关联标准
-
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
-
T/IAWBS 001-2017
碳化硅单晶
-
GB/T 14847-2010
重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
-
GB/T 30867-2014
碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
-
GB/T 30858-2014
蓝宝石单晶衬底抛光片
-
GB/T 30856-2014
LED外延芯片用砷化镓衬底
-
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 20228-2006
砷化镓单晶
-
GB/T 6617-2009
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
-
YS/T 838-2012
碲化镉
-
GB/T 12962-2015
硅单晶
-
YS/T 978-2014
单晶炉碳/碳复合材料导流筒
-
SJ/T 11493-2015
硅衬底中氮浓度的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 31476-2015
电子装联高质量内部互连用焊料
-
GB/T 29055-2012
太阳电池用多晶硅片
-
GB/T 12962-1996
硅单晶
-
GB/T 6621-2009
硅片表面平整度测试方法
-
YS/T 223-1996
硒
-
GB/T 29054-2019
太阳能电池用铸造多晶硅块
-
GB/T 32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法