收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 12962-2005 硅单晶
Monoccrystalline silicon
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
元素半导体材料（H82）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
提出部门：
中国有色金属工业协会
-
归口单位：
中国有色金属工业协会
-
主管部门：
中国有色金属工业协会
-
起草单位：
北京有色金属研究总院
相关人员
关联标准
-
GB/T 12965-1996
硅单晶切割片和研磨片
-
GB/T 19199-2003
半绝缘砷化镓单晶中碳浓度的红外吸收测试方法
-
GB/T 12964-1996
硅单晶抛光片
-
GB/T 25074-2017
太阳能级多晶硅
-
GB/T 29057-2012
用区熔拉晶法和光谱分析法评价多晶硅棒的规程
-
GB/T 26069-2010
硅退火片规范
-
SJ/T 11488-2015
半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
-
GB/T 13387-2009
硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
-
GB/T 30652-2014
硅外延用三氯氢硅
-
DB36/ 652-2012
江西省太阳能级多晶硅单位产品能源消耗限额
-
GB/T 26067-2010
硅片切口尺寸测试方法
-
SJ/T 11500-2015
碳化硅单晶晶向的测试方法
-
GB/T 12963-1996
硅多晶
-
SJ/T 11494-2015
硅单晶中III-V族杂质的光致发光测试方法
-
GB/T 1555-1997
半导体单晶晶向测定方法
-
GB/T 1553-2009
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
-
GB/T 12964-2003
硅单晶抛光片
-
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 26072-2010
太阳能电池用锗单晶
-
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
打开设置，点击
执行注册
