GB/T 17554.3-2006

识别卡 测试方法 第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备

Identification cards - Test methods Part 3: Integrated circuit(s) cards with contacts and related interface devices

2006-03-14

2006-07-01

暂无

实施公告【】

GB/T17554《识别卡测试方法》拟分为7个部分:
-第1部分:一般特性测试
-第2部分:磁条卡
-第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备
-第4部分:无触点集成电路卡
-第5部分:光记忆卡
-第6部分:接近式卡
-第7部分:邻近式卡
本部分为GB/T17554的第3部分。修改采用国际标准ISO/IEC10373-3:2001《识别卡测试方法第3部分:带触点的集成电路卡及其相关接口设备})(英文版)。
本部分与ISO/IEC10373-3:2001相比,增加和修改了下列内容:
a)增加了4.6.2.2参数定义;
b)附录A中增加了A.1.2点压力测试,:
c)附录A因增加A.1.2,其编号作了编辑性修改。
根据新版识别卡带触点的集成电路卡物理特性标准做了以上修改。
本部分的附录A是资料性附录。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由中国电子技术标准化研究所归口。
本部分起草单位:中国电子技术标准化研究所。
本部分主要起草人:冯敬、蔡怀忠、耿力、金倩、刘华茂。

暂无

下列文件中的条款通过GB/T17554的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T14916-2006识别卡物理特性(ISO/IEC7810:1995,IDT)
GB/T16649.1-2006识别卡带触点的集成电路卡第1部分:物理特性(ISO/IEC7816-1:1998,MOD)
GB/T16649.2-2006识别卡带触点的集成电路卡第2部分:触点的尺寸和位置(ISO/IEC7816-2:1999,IDT)
GB/T16649.3-2006识别卡带触点的集成电路卡第3部分:电信号和传输协议(ISO/IEC7816-3:1997,IDT)
GB/T17554.1-2006识别卡测试方法第1部分:一般特性测试(ISO/IEC10373-1:1998,MOD)
GJB548A-1996微电子器件实验方法和程序方法3015静电放电灵敏度的分类
ISO/IEC7816-4:1995识别卡带触点的集成电路卡第4部分交换命今

GB/T 14916-2006 GB/T 16649.1-2006 GB/T 16649.2-2006 GB/T 16649.3-2006 GB/T 17554.1-2006 GJB 548A-1996 ISO/IEC 7816-4:1995