收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 20229-2006 磷化镓单晶
Gallium phosphide single crystal
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
化合物半导体材料(H83)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位:
中国电子科技集团公司第十三研究所
-
归口单位:
信息产业部(电子)
-
主管部门:
信息产业部(电子)
相关人员
关联标准
-
GB/T 12964-1996
硅单晶抛光片
-
GB/T 24578-2009
硅片表面金属沾污的全反射X光荧光光谱测试方法
-
DB65/T 3486-2013
新疆维吾尔自治区太阳能级多晶硅块红外探伤检测方法
-
YS/T 26-1992
硅片边缘轮廓检验方法
-
GB/T 26071-2018
太阳能电池用硅单晶片
-
GB/T 29852-2013
光伏电池用硅材料中P、As、Sb施主杂质含量的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 8750-1997
半导体器件键合金丝
-
SJ/T 11498-2015
重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
-
SJ/T 11502-2015
碳化硅单晶抛光片规范
-
GB/T 24580-2009
重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
-
GB/T 12964-2018
硅单晶抛光片
-
YS 68-2004
砷
-
GB/T 29505-2013
硅片平坦表面的表面粗糙度测量方法
-
GB/T 31854-2015
光伏电池用硅材料中金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
-
GB/T 6617-2009
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
-
GB/T 24579-2009
酸浸取 原子吸收光谱法测定多晶硅表面金属污染物
-
GB/T 26069-2010
硅退火片规范
-
GB/T 26068-2010
硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
-
GB/T 30858-2014
蓝宝石单晶衬底抛光片
-
GB/T 25075-2010
太阳能电池用砷化镓单晶