收藏到云盘
纠错反馈
YS/T 516-2006 钨丝二次再结晶温度测量方法
Determination method for secondary recrystallization temperature of tungsten wire
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
金属材料化学分析(77.040.30)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属理化性能试验方法(H20/29)
金属物理性能试验方法(H21)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
YS/T 426.6-2000
锑铍芯块化学分析方法 溴甲醇法测定氧化铍量
-
GB/T 8763-2020
非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法
-
YB/T 4618-2017
耐指纹镀锌钢板表面电阻试验方法
-
GB/T 21115-2007
块状氧化物超导体磁浮力的测量
-
YS/T 226.1-1994
硒中铋量的测定(碘化钾、硫脲、马钱子碱吸光光度法)
-
YS/T 784-2012
铝电解槽技术参数测量方法
-
YS/T 248.9-1994
粗铅化学分析方法 原子吸收分光光度法测定银量
-
SJ/T 11630-2016
太阳能电池用硅片几何尺寸测试方法
-
YS/T 535.7-2009
氟化钠化学分析方法 第7部分:酸度的测定 中和法
-
GB/T 16597-2019
冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则
-
SN/T 3343-2012
不锈钢中锰、磷、硅、铬、镍、铜、钼和钛含量的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
-
YS/T 361-2006
纯铂中杂质元素的发射光谱分析
-
YS/T 35.1-1992
高纯锑化学分析方法 Ag-DDC分光光度法测定砷量
-
GB/T 8364-2003
热双金属比弯曲试验方法
-
SN/T 3348-2012
铬镍钨钢中硅、锰、磷、铬、镍、钨含量的测定 波长色散X射线荧光光谱法
-
GB/T 13388-1992
硅片参考面结晶学取向X射线测量方法
-
GB/T 4059-1983
硅多晶气氛区熔磷检验方法
-
GB/T 3171.1-1982
铝粉松装密度的测定 漏斗法
-
DB44/T 2042-2017
广东省刀具锋利度和耐用度试验方法
-
GB/T 1557-1989
硅晶体中间隙氧含量的红外吸收测量方法