收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 11071-2006 区熔锗锭
Zone-refined germanium ingot
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】、
【
冶金（77）
有色金属（77.120）
镉、钴及其合金（77.120.70）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
半金属（H81）
】、
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
元素半导体材料（H82）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
-
代替标准：
GB/T 11071-1989
-
引用标准：
GB/T 4326
YS/T 602-2006
相关部门
相关人员
关联标准
-
YS/T 520.2-2007
镓化学分析方法 第2部分：铅含量的测定 4-(2-吡啶偶氮)-间苯二酚分光光度法
-
SJ/T 11504-2015
碳化硅单晶抛光片表面质量的测试方法
-
GB/T 10267.4-1988
金属钙分析方法 8-羟基喹啉-三氯甲烷萃取分光光度法测定铝
-
YS/T 520.9-2006
镓化学分析方法 苯基荧光酮-聚乙二醇辛基苯基醚光度法测定锗量
-
GB/T 12690.5-1990
稀土金属及其氧化物化学分析方法 X射线荧光光谱法测定氧化镨中氧化镧,氧化铈,氧化钕,氧化钐和氧化钇量
-
GB/T 32279-2015
硅片订货单格式输入规范
-
GB/T 1488-1979
铂钯铑合金化学分析方法
-
GB/T 8750-1997
半导体器件键合金丝
-
YS/T 540.2-2006
钒化学分析方法 二苯基碳酰二肼光度法测定铬量
-
YS/T 224-1994
铊
-
YS/T 13-2015
高纯四氯化锗
-
GB/T 13747.11-1992
锆及锆合金化学分析方法 硫氰酸盐分光光度法测定钼量
-
DB36/ 652-2012
江西省太阳能级多晶硅单位产品能源消耗限额
-
YS/T 1154-2016
粗硒
-
GB/T 14139-2009
硅外延片
-
GB/T 6618-2009
硅片厚度和总厚度变化测试方法
-
YS/T 520.5-2007
镓化学分析方法 第5部分：钙含量的测定 一氧化二氮-乙炔火焰原子吸收光谱法
-
GB/T 12690.13-1990
稀土金属及其氧化物化学分析方法 高频-红外吸收法测定金属钕、金属钐中碳量
-
GB/T 15249.1-2009
合质金化学分析方法 第1部分：金量的测定 火试金重量法
-
GB/T 4375.2-1984
镓化学分析方法 4-(2-吡啶偶氮)-间苯二酚光度法测定铅量
打开设置，点击
执行注册
