收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 11070-2006 还原锗锭
Reduced germanium ingot
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】、
【
冶金（77）
有色金属（77.120）
镉、钴及其合金（77.120.70）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
半金属（H81）
】、
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
元素半导体材料（H82）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
提出部门：
中国有色金属工业协会
-
主管部门：
中国有色金属工业协会
-
归口单位：
全国有色金属标准化技术委员会
-
起草单位：
南京锗厂有限责任公司
相关人员
关联标准
-
GB/T 11066.4-1989
金化学分析方法 火焰原子吸收光谱法测定铜、铅、铋和锑量
-
GB/T 25074-2010
太阳能级多晶硅
-
GB/T 6619-2009
硅片弯曲度测试方法
-
YS/T 982-2014
氢化炉碳/碳复合材料U形发热体
-
YS/T 281.2-2011
钴化学分析方法 第2部分：铝量的测定 铬天青S分光光度法
-
YS/T 536.8-2006
铋化学分析方法 蒸馏-硫氰酸汞分光光度法测定氯量
-
GB/T 15249.4-1994
合质金化学分析方法 EDTA滴定法测定铅量
-
GB/T 3631-1983
湿法朱砂技术条件
-
GB/T 2967-1989
铸造碳化钨
-
YS/T 520.7-2007
镓化学分析方法 第7部分：硅含量的测定 萃取-钼蓝分光光度法
-
YS/T 1061-2015
改良西门子法多晶硅用硅芯
-
GB/T 23273.7-2009
草酸钴化学分析方法 第7部分：硫酸根离子量的测定 燃烧-碘量法
-
GB/T 12965-1996
硅单晶切割片和研磨片
-
SJ/T 11498-2015
重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 11071-2006
区熔锗锭
-
GB/T 30855-2014
LED外延芯片用磷化镓衬底
-
GB/T 16596-2019
确定晶片坐标系规范
-
YS/T 1510-2021
高纯锗粉
-
GB/T 15072.18-1994
贵金属及其合金化学分析方法 金合金中铁量的测定
-
GB/T 31092-2014
蓝宝石单晶晶锭
打开设置，点击
执行注册
