收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 4326-2006
  • 名称:
    非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • 英文名称:
    Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2006-07-18
  • 实施日期:
    2006-11-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 金属材料试验(77.040) 金属材料试验综合(77.040.01)
  • CCS分类:
    冶金(H) 金属化学分析方法(H10/19) 半金属及半导体材料分析方法(H17) 】、
    冶金(H) 金属理化性能试验方法(H20/29) 金属物理性能试验方法(H21)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。
    本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料,一般情况下,适用于室温电阻率高达 104 Ω·cm 半导体单晶材料的测试。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 4326-1984
相关部门
  • 提出部门:
    中国有色金属工业协会
  • 主管部门:
    中国有色金属工业协会
  • 起草单位:
    北京有色金属研究总院
  • 归口单位:
    全国有色金属标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 8763-1988 非蒸散型吸气材料及制品吸气性能测试方法
  • YS/T 581.1-2006 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第1部分:重量法测定湿存水含量
  • YS/T 455.6-2003 铝箔试验方法 第6部分:铝箔其它相关试验方法
  • YS/T 519.4-2006 砷化学分析方法 二硫代二安替吡啉基甲烷光度法测定铋量
  • GB/T 6617-1995 硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
  • GB/T 5225-1985 金属材料定量相分析——X射线衍射K值法
  • YS/T 438.2-2013 砂状氧化铝物理性能测定方法 第2部分:磨损指数的测定
  • GB/T 41079.1-2021 液态金属物理性能测定方法 第1部分:密度的测定
  • SN/T 2413-2010 进出口金属硅中总碳和硫含量测定 高频燃烧红外吸收光谱法
  • GB/T 3248-1982 铜、镍及其合金电阻系数测定方法
  • GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法
  • YS/T 581.3-2006 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第3部分:蒸馏——硝酸钍容量法测定氟含量
  • YS/T 227.8-1994 碲中镁、钠量的测定(原子吸收分光光度法)
  • GB/T 6523-1986 氧化铝粉末有效密度的测定 比重瓶法
  • YS/T 273.3-2006 冰晶石化学分析方法和物理性能测定方法 第3部分:蒸馏—硝酸钍容量法测定氟含量
  • YS/T 981.4-2014 高纯铟化学分析方法 锡量的测定 苯芴酮-溴代十六烷基三甲胺吸光光度法
  • GB/T 15078-2021 贵金属电触点材料接触电阻的测量方法
  • SJ/T 11629-2016 太阳能电池用硅片和电池片的在线光致发光分析方法
  • GB/T 37561-2019 难熔金属及其化合物粉末在粒度测定之前的分散处理规则
  • YS/T 226.7-1994 硒中硅量的测定(硅钼蓝吸光光度法)
用户分享资源

GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals ...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com