收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 4326-2006
  • 名称:
    非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
  • 英文名称:
    Extrinsic semiconductor single crystals measurement of Hall mobility and Hall coefficient
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2006-07-18
  • 实施日期:
    2006-11-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 金属材料试验(77.040) 金属材料试验综合(77.040.01)
  • CCS分类:
    冶金(H) 金属化学分析方法(H10/19) 半金属及半导体材料分析方法(H17) 】、
    冶金(H) 金属理化性能试验方法(H20/29) 金属物理性能试验方法(H21)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定的测量方法适用于测量非本征半导体单晶材料的霍尔系数、载流子霍尔迁移率、电阻率和载流子浓度。
    本标准规定的测量方法仅在有限的范围内对锗、硅、砷化镓和磷化镓单晶材料进行了实验室测量,但该方法也可适用于其他半导体单晶材料,一般情况下,适用于室温电阻率高达 104 Ω·cm 半导体单晶材料的测试。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 4326-1984
相关部门
  • 提出部门:
    中国有色金属工业协会
  • 主管部门:
    中国有色金属工业协会
  • 起草单位:
    北京有色金属研究总院
  • 归口单位:
    全国有色金属标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 37207-2018 镍钴锰酸锂电化学性能测试 放电平台容量比率及循环寿命测试方法
  • GB/T 11108-1989 硬质合金热扩散率的测定方法
  • GB/T 3249-1982 难熔金属及化合物粉末粒度的测定方法 费氏法
  • YB/T 5316-2006 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法测定碳量
  • YS/T 226.12-1994 硒中铅量的测定(示波极谱法)
  • YB/T 5337-2006 金属点阵常数的测定方法 X射线衍射仪法
  • GB/T 14849.3-2020 工业硅化学分析方法 第3部分:钙含量的测定
  • YS/T 987-2021 氯硅烷中碳含量的测定?气相色谱质谱联用法
  • GB/T 4700.7-1998 硅钙合金化学分析方法 红外线吸收法和燃烧碘酸钾滴定法测定硫量
  • GB/T 24271-2009 热双金属条形元件技术条件
  • YS/T 581.14-2006 氟化铝化学分析方法和物理性能测定方法 第14部分:松装密度的测定
  • GB/T 6147-2005 精密电阻合金热电动势率 测试方法
  • YB 933-1978 热偶丝材热电势的测量方法--熔丝法
  • GB/T 14849.1-2020 工业硅化学分析方法 第1部分:铁含量的测定
  • YS/T 617.4-2007 铝、镁及其合金粉理化性能测定方法 第4部分: 镁粉中盐酸不溶物量的测定 重量法
  • GB/T 14140.2-1993 硅片直径测量方法 千分尺法
  • GB/T 4196-1984 钨、钼条密度测定方法
  • YS/T 1290-2018 多晶硅生产尾气中硅烷含量的测定 气相色谱法
  • GB/T 16481-1996 稀土元素微波等离子体炬发射光谱(MPT-AES)标准谱表
  • GB/T 11110-1989 铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜的封孔质量的测定方法 导纳法
用户分享资源

GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法

Extrinsic semiconductor single crystals ...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 4326-2006 非本征半导体单晶霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com