收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 11069-2006 高纯二氧化锗
High purity germanium dioxide
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电气工程（29）
半导体材料（29.045）
】、
【
化工技术（71）
无机化学（71.060）
氧化物（71.060.20）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
有色金属及其合金产品（H60/69）
稀有分散金属及其合金（H66）
】、
【
冶金（H）
半金属与半导体材料（H80/84）
元素半导体材料（H82）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
提出部门：
中国有色金属工业协会
-
主管部门：
中国有色金属工业协会
-
起草单位：
云南东昌金属加工有限公司
南京锗厂有限责任公司
-
归口单位：
全国有色金属标准化技术委员会
相关人员
关联标准
-
GB/T 11069-1989
高纯二氧化锗
-
GB/T 23364.3-2009
高纯氧化铟化学分析方法 第3部分：锑量的测定 原子荧光光谱法
-
HG/T 4836-2015
触媒用氧化锌
-
YS/T 982-2014
氢化炉碳/碳复合材料U形发热体
-
YS/T 948-2014
镓废料
-
GB/T 13387-2009
硅及其它电子材料晶片参考面长度测量方法
-
GB/T 2590.11-1981
氧化锆中镍量的测定 (α-联呋喃甲酰二肟吸光光度法)
-
GB/T 23364.4-2009
高纯氧化铟化学分析方法 第4部分：铝、铁、铜、锌、镉、铅和铊量的测定 电感耦合等离子体质谱法
-
GB/T 13558-1992
氧化镝
-
GB/T 32651-2016
采用高质量分辨率辉光放电质谱法测量太阳能级硅中痕量元素的测试方法
-
YB/T 5328-2006
五氧化二钒化学分析方法 高锰酸钾氧化-硫酸亚铁铵滴定法测定五氧化二钒量
-
GB/T 11071-2006
区熔锗锭
-
GB/T 23364.1-2009
高纯氧化铟化学分析方法 第1部分：砷量的测定 原子荧光光谱法
-
GB/T 10118-2009
高纯镓
-
GB/T 36706-2018
磷化铟多晶
-
GB/T 2590.2-1981
氧化锆、氧化铪中铁量的测定 (磺基水杨酸吸光光度法)
-
GB/T 12965-1996
硅单晶切割片和研磨片
-
GB/T 41652-2022
刻蚀机用硅电极及硅环
-
GB/T 2590.3-1981
氧化锆、氧化铪中硅量的测定 硅钼蓝吸光光度法
-
GB/T 6052-1993
工业液体二氧化碳
打开设置，点击
执行注册
