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SJ 20954-2006 集成电路锁定试验

Integrated circuits latch-up test
基本信息
  • 标准号：
    SJ 20954-2006
  • 名称：
    集成电路锁定试验
  • 英文名称：
    Integrated circuits latch-up test
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    强制性
  • 发布日期：
    2006-08-07
  • 实施日期：
    2006-12-30
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了集成电路的电流锁定和过压锁定的试验方法。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
暂无
相关人员
暂无
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