收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 5: Semicustom integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
-
引用标准：
GB/T 4728.12-1996
GB/T 4728.13-1996
GB/T 16464-1996
GB/T 17573-1998
GB/T 17574-1998
GB/T 17940-2000
IEC 60748-4:1987
修订1:1991
修订2:1994
IEC 60748-11:1990
-
采用标准：
IEC 60748-5:1997 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路 （等同采用 IDT）
相关部门
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
信息产业部四所
相关人员
关联标准
-
SJ/Z 11353-2006
集成电路IP核转让规范
-
GB/T 16464-1996
半导体器件 集成电路 第1部分:总则
-
GB/T 15297-1994
微电路模块机械和气候试验方法
-
SJ 50597/56-2002
半导体集成电路JW920型PIN驱动器详细规范
-
GB/T 3430-1989
半导体集成电路型号命名方法
-
GB/T 14620-1993
薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片
-
GB/T 33929-2017
MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
-
GB/T 15138-1994
膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
-
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
-
GB/T 14032-1992
半导体集成电路数字锁相环测试方法的基本原理
-
SJ/T 10804-2000
半导体集成电路 电平转换器测试方法的基本原理
-
SJ/Z 11359-2006
集成电路IP核开发与集成的功能验证分类法
-
SJ 50597/60-2004
半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范
-
SJ 20954-2006
集成电路锁定试验
-
GB/T 36479-2018
集成电路 焊柱阵列试验方法
-
GB/T 34898-2017
微机电系统（MEMS）技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
-
GB/T 14027.6-1992
半导体集成电路通信电路系列和品种 频率合成器系列品种
-
GB/T 6812-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 模拟乘-除法器的品种
-
GB/T 17865-1999
焦深与最佳聚焦的测量规范
-
GB/T 7509-1987
半导体集成电路微处理器空白详细规范 (可供认证用)
打开设置，点击
执行注册
