收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 20515-2006 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 5: Semicustom integrated circuits
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
-
引用标准：
GB/T 4728.12-1996
GB/T 4728.13-1996
GB/T 16464-1996
GB/T 17573-1998
GB/T 17574-1998
GB/T 17940-2000
IEC 60748-4:1987
修订1:1991
修订2:1994
IEC 60748-11:1990
-
采用标准：
IEC 60748-5:1997 半导体器件 集成电路 第5部分：半定制集成电路 （等同采用 IDT）
相关部门
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
信息产业部四所
相关人员
关联标准
-
SJ 52438/14-2004
混合集成电路HPA501J型功率放大器详细规范
-
T/CIE 067-2020
工业级高可靠集成电路评价 第1部分：AC/DC电路
-
GB/T 35010.8-2018
半导体芯片产品 第8部分：数据交换的EXPRESS格式
-
GB/T 14862-1993
半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法
-
GB/T 17574.20-2006
半导体器件 集成电路 第2-20部分：数字集成电路 低压集成电路族规范
-
SJ/Z 11352-2006
集成电路IP核测试数据交换格式和准则规范
-
GB/T 13062-2018
半导体器件 集成电路 第21-1部分：膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用鉴定批准程序)
-
GB/T 14029-1992
半导体集成电路模拟乘法器测试方法的基本原理
-
GB/T 26113-2010
微机电系统（MEMS）技术 微几何量评定总则
-
GB/T 19248-2003
封装引线电阻测试方法
-
GB/T 15509-1995
半导体集成电路系列和品种 彩电遥控器用电路系列的品种
-
GB/T 6815-1986
半导体集成非线性电路系列和品种 锁相环的品种
-
SJ 50597/54-2002
半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范
-
GB/T 35005-2018
集成电路倒装焊试验方法
-
GB/T 36479-2018
集成电路 焊柱阵列试验方法
-
GB/T 19403.1-2003
半导体器件 集成电路 第11部分:第1篇:半导体集成电路 内部目检 (不包括混合电路)
-
GB/T 28277-2012
硅基MEMS制造技术 微键合区剪切和拉压强度检测方法
-
GB/T 36614-2018
集成电路 存储器引出端排列
-
GB/T 6798-1996
半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理
-
GB/T 15878-1995
小外形封装引线框架规范
打开设置，点击
执行注册
