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GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范

Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 4589.1-2006
  • 名称：
    半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范
  • 英文名称：
    Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2006-10-10
  • 实施日期：
    2007-02-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【】
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分类信息
  • ICS分类：
    【 电子学（31） 半导体分立器件（31.080） 半导体分立器件综合（31.080.01） 】
  • CCS分类：
    【 电子元器件与信息技术（L） 半导体分立器件（L40/49） 半导体分立器件综合（L40） 】
  • 行标分类：
    暂无
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系（IECQ）的一部分。
    本规范是半导体器件（分立器件和集成电路，包括多片集成电路，但不包括混合电路）的总规范。
    本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序，并给出了下述方面的总原则：
    ——电特性测试方法；
    ——气候和机械试验；
    ——耐久性试验。
    注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时，必须用这些规范来补充本规范
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 代替标准：
    GB/T 4589.1-1989
  • 采用标准：
    IEC 60747-10:1991 半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    中国电子技术标准化研究所
  • 归口单位：
    全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门：
    工业和信息化部（电子）
相关人员
暂无
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