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GB/T 4589.1-2006 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范

Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 4589.1-2006
  • 名称:
    半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范
  • 英文名称:
    Semiconductor devices - Part 10: Generic specification for discrete devices and integrated circuits
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2006-10-10
  • 实施日期:
    2007-02-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【】
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分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 半导体分立器件(31.080) 半导体分立器件综合(31.080.01)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 半导体分立器件(L40/49) 半导体分立器件综合(L40)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本规范构成国际电工委员会电子元器件质量评定体系(IECQ)的一部分。
    本规范是半导体器件(分立器件和集成电路,包括多片集成电路,但不包括混合电路)的总规范。
    本规范规定了在IECQ体系内采用的质量评定的总程序,并给出了下述方面的总原则:
    ——电特性测试方法;
    ——气候和机械试验;
    ——耐久性试验。
    注:当存在已批准的、适用于特定的一种或几种器件类型的分规范、族规范和空白详细规范时,必须用这些规范来补充本规范
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 4589.1-1989
  • 采用标准:
    IEC 60747-10:1991 半导体器件 第10部分:分立器件和集成电路总规范 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子技术标准化研究所
  • 归口单位:
    全国半导体器件标准化技术委员会
  • 主管部门:
    工业和信息化部(电子)
相关人员
暂无
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