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JJG 1015-2006 通用数字集成电路测试系统

General Digital Integrated Circuit Testing System
基本信息
  • 标准号：
    JJG 1015-2006
  • 名称：
    通用数字集成电路测试系统
  • 英文名称：
    General Digital Integrated Circuit Testing System
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    暂无
  • 性质：
    强制性
  • 发布日期：
    2006-12-08
  • 实施日期：
    2007-03-08
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本规程适用于数字集成电路测试系统，包括混合集成电路及存贮器测试系统的数字部分的首次检定、后续检定和使用中检验。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    JJF 1059-1999
相关部门
  • 归口单位：
    全国无线电计量技术委员会
  • 发布部门：
    国家质量监督检验检疫总局
  • 起草单位：
    信息产业部工业标准化研究所
相关人员
  • 起草人：
    陈大为 吴京燕
关联标准