收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 17574.9-2006 半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-9: Digital integrated circuits - Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
基本信息
-
标准号：
GB/T 17574.9-2006
-
名称：
半导体器件 集成电路 第2-9部分：数字集成电路 紫外光擦除电可编程MOS只读存储器空白详细规范
-
英文名称：
Semiconductor devices - Integrated circuits - Part 2-9: Digital integrated circuits - Blank detail specification for MOS ultraviolet light erasable electrically programmable read-only memories
-
状态：
现行
-
类型：
国家标准
-
性质：
推荐性
-
发布日期：
2006-12-05
-
实施日期：
2007-05-01
-
废止日期：
暂无
-
相关公告：
实施公告【】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
集成电路、微电子学（31.200）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
微电路（L55/59）
半导体集成电路（L56）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
起草单位：
中国电子科技集团公司第四十七研究所
相关人员
关联标准
-
GB/T 11497.2-1989
半导体集成电路CMOS电路系列和品种 54/74 HCT 系列的品种
-
SJ 50597/60-2004
半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范
-
GB/T 13068-1991
半导体集成电路系列和品种 磁敏传感器用系列的品种
-
GB/T 7092-1993
半导体集成电路外形尺寸
-
GB/T 34899-2017
微机电系统（MEMS）技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
-
GB/T 14025-1992
半导体集成电路门阵列电路系列和品种 ECL系列的品种
-
GB/T 35010.5-2018
半导体芯片产品 第5部分：电学仿真要求
-
SJ 50597/57-2003
半导体集成电路 JW584/JW584A型可编程电压基准详细规范
-
GB/T 9424-1998
半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
-
SJ 50597/55-2002
半导体集成电路JSC320C25型数字信号处理器详细规范
-
SJ 50597/59-2003
半导体集成电路 JB523型宽带对数放大器详细规范
-
SJ/T 11585-2016
串行存储器接口要求
-
GB/T 26113-2010e
微机电系统(MEMS)技术微几何量评定总则
-
GB/T 35011-2018
微波电路 压控振荡器测试方法
-
GB/T 32814-2016
硅基MEMS制造技术 基于SOI硅片的MEMS工艺规范
-
GB/T 4377-1996
半导体集成电路 电压调整器测试方法的基本原理
-
GB/T 15876-1995
塑料四面引线扁平封装引线框架规范
-
GB/T 26113-2010
微机电系统（MEMS）技术 微几何量评定总则
-
GB/T 34898-2017
微机电系统（MEMS）技术 MEMS谐振敏感元件非线性振动测试方法
-
GB/T 14114-1993
半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理
打开设置，点击
执行注册
