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GB/T 20726-2006 半导体探测器X射线能谱仪通则

Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 20726-2006
  • 名称：
    半导体探测器X射线能谱仪通则
  • 英文名称：
    Instrumental specification for energy dispersive X-ray spectrometers with semiconductor detectors
  • 状态：
    废止
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2006-12-25
  • 实施日期：
    2007-08-01
  • 废止日期：
    2016-09-01
  • 相关公告：
    实施公告【】
    修订公告【关于批准发布《石英玻璃化学成分分析方法》等168项国家标准的公告】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了表征以半导体探测器、前置放大器和信号处理系统为基本构成的X射线能谱仪(EDS)特性最重要的量值。本标准仅适用于固态电离作用原理的半导体探测器EDS。本标准只规定了与电子探针(EPMA)或扫描电镜(SEM)联用的此类EDS的最低要求,至于如何实现分析则不在本标准的规定范围之内。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 采用标准：
    ISO 15632:2002 半导体探测器X射线能谱仪通则 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位：
    中国科学院地质与地球物理研究所
  • 提出部门：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准