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GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法

Method of thickness measurement for thin crystal by convergent beam electron diffraction
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言：
    暂无
  • 适用范围：
    本标准规定了用透射电子显微镜测定薄晶体试样厚度的会聚束电子衍射方法。本方法适用于测定线度为10－9 m～0.1×10-3 m、厚度在几十至几百纳米范围的薄晶体厚度。
  • 引用标准：
    暂无
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 18907-2002
相关部门
  • 起草单位：
    北京科技大学
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 提出部门：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准