收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 20870.1-2007 半导体器件 第16-1部分:微波集成电路 放大器
Semiconductor devices - Part 16-1: Microwave integrated circuits - Amplifiers
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
电子学(31)
半导体分立器件(31.080)
半导体分立器件综合(31.080.01)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
半导体分立器件综合(L40)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
-
起草单位:
中国电子科技集团公司第五十五研究所
-
归口单位:
全国半导体器件标准化技术委员会
-
主管部门:
工业和信息化部(电子)
相关人员
关联标准
-
DB63/T 2021-2022
青海省市场监管信息技术服务管理规范
-
DB52/T 1104-2016
贵州省半导体器件结-壳热阻瞬态测试方法
-
GB/T 20522-2006
半导体器件 第14-3部分: 半导体传感器-压力传感器
-
SJ 1606-1980
硅双基极管峰点电流的测试方法
-
GB/T 4937.12-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第12部分:扫频振动
-
SJ 1603-1980
硅双基极二极管基极间电阻的测试方法
-
GB/T 18910.11-2012
液晶显示器件 第1-1部分:术语和符号
-
GB/T 4937.20-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第20部分:塑封表面安装器件耐潮湿和焊接热综合影响
-
GB/T 11499-2001
半导体分立器件文字符号
-
GB/T 4937.1-2006
半导体器件 机械和气候试验方法 第1部分: 总则
-
GB/T 4937.3-2012
半导体器件 机械和气候试验方法 第3部分:外部目检
-
GB/T 18910.2-2003
液晶和固态显示器件 第2部分:液晶显示模块分规范
-
GB/T 18910.22-2008
液晶显示器件 第2-2部分:彩色矩阵液晶显示模块 空白详细规范
-
SJ 1609-1980
硅双基极二极管分压比的测试方法
-
GB 12560-1990
半导体器件 分立器件分规范 (可供认证用)
-
SJ 20938-2005
微波电路变频测试方法
-
SJ 1400-1978
半导体器件参数符号
-
SJ 1602-1980
硅双基极二极管测试方法总则
-
GB/T 4937.22-2018
半导体器件 机械和气候试验方法 第22部分:键合强度
-
GB 12300-1990
功率晶体管安全工作区测试方法