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YS/T 644-2007 铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量

Determination method of Pt-Ru alloy film—Determination of alloyed Pt content and alloyed Ru content by X-ray photoelectron spectroscopy
基本信息
  • 标准号:
    YS/T 644-2007
  • 名称:
    铂钌合金薄膜测定方法 X射线光电子能谱法 测定合金态铂及合金态钌含量
  • 英文名称:
    Determination method of Pt-Ru alloy film—Determination of alloyed Pt content and alloyed Ru content by X-ray photoelectron spectroscopy
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2007-04-13
  • 实施日期:
    2007-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    暂无
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分类信息
  • ICS分类:
    冶金(77) 有色金属(77.120) 其他有色金属及其合金(77.120.99)
  • CCS分类:
    冶金(H) 有色金属及其合金产品(H60/69) 贵金属及其合金(H68)
  • 行标分类:
    有色冶金(YS)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    本标准规定了铂钌(PtRu)合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌含量(质量分数)的测定方法。
    本标准适用于铂钌合金薄膜材料中合金态铂及合金态钌质量分数的测定,也可适用于各种铂合金薄膜材料中合金态铂质量分数及其他合金态金属质量分数的测定。测定范围:合金态铂质量分数不小于3%,合金态钌质量分数不小于3%。
    本标准不适用于单层厚度不大于10 nm的层状薄膜。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    昆明贵金属研究所
相关人员
暂无
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