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YS/T 666-2008 工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法

Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
基本信息
  • 标准号：
    YS/T 666-2008
  • 名称：
    工业镓化学分析方法 杂质元素的测定 电感耦合等离子体原子发射光谱法
  • 英文名称：
    Chemical analysis methods of gallium for industrial use—Determination of impurity elements—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    行业标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2008-03-12
  • 实施日期：
    2008-09-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    暂无
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分类信息
  • ICS分类：
    【 冶金（77） 有色金属（77.120） 其他有色金属及其合金（77.120.99） 】
  • CCS分类：
    【 冶金（H） 金属化学分析方法（H10/19） 轻金属及其合金分析方法（H12） 】
  • 行标分类：
    【 有色冶金（YS） 】
描述信息
  • 前言：
    本标准附录A 为资料性附录。
    本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。
    本标准由中国铝业股份有限公司河南分公司、中国有色金属工业标准计量质量研究所负责起草。
    本标准由中国铝业股份有限公司山东分公司、中国铝业股份有限公司贵州分公司参加起草。
    本标准主要起草人:梁倩、王书勤、王晓雯、张予秋、张新宇。
  • 适用范围：
    本标准规定了工业镓中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定方法。
    本标准适用于工业镓[99.9％≤ω(%)≤99.995％]中硅、钠、钾、镁、钙、铝含量的测定。测定范围见表1。
  • 引用标准：
    下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
    ＧＢ／Ｔ６０２—２００２　化学试剂　杂质测定用标准溶液的制备
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 602-2002
相关部门
  • 起草单位：
    中国有色金属工业标准计量质量研究所 中国铝业股份有限公司河南分公司
相关人员
暂无
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