收藏到云盘
纠错反馈
GB/Z 21738-2008 一维纳米材料的基本结构 高分辨透射电子显微镜检测方法
Fundamental structures of one dimensional nanomaterials - High resolution electron microscopy characterization
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
计量学和测量、物理现象（17）
光学和光学测量（17.180）
光学和光学测量综合（17.180.01）
】
-
CCS分类：
【
仪器、仪表（N）
光学仪器（N30/39）
光学仪器综合（N30）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本指导性技术文件由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会提出。
本指导性技术文件由全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会归口。
本指导性技术文件起草单位:中国科学院物理研究所电子显微镜实验室。
本指导性技术文件主要起草人:李建奇。
-
适用范围：
本指导性技术文件规定了采用高分辨透射电子显微镜检测纳米材料中一维或准一维纳米材料的原理，术语和定义，仪器和设备，样品制备，测量程序，结果表示以及试验报告等。
本指导性技术文件适用于测量一维或准一维纳米材料的基本结构（形貌、排列情况、大小线度的分布、晶化情况、生长取向关系），元素组分，截面及界面原子排布等。
-
引用标准：
下列文件中的条款通过本指导性技术文件的引用而成为本指导性技术文件的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本指导性技术文件,然而,鼓励根据本指导性技术文件达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本指导性技术文件。
GB/T19619 纳米材料术语
相关标准
相关部门
-
主管部门：
中国科学院
-
起草单位：
中国科学院物理研究所电子显微镜实验室
-
归口单位：
全国纳米技术标准化技术委员会纳米材料分技术委员会
相关人员
关联标准
-
GB/T 11168-2009
光学系统像质测试方法
-
GB/T 10988-1989
光学系统杂(散)光测量方法
-
GB/T 34831-2017
纳米技术 贵金属纳米颗粒电子显微镜成像 高角环形暗场法
-
JB/T 9313-1999
光学仪器 特种细牙螺纹
-
JB/T 9348.2-1999
光学仪器防霉、防雾、防锈 技术要求
-
GB/T 27667-2011
光学系统像质评价 畸变的测定
-
JB 5517-1991
光学仪器电气防护基本安全要求
-
GB/T 12085.11-2010
光学和光学仪器 环境试验方法 第11部分：长霉
-
GB/T 12085.13-1989
光学和光学仪器 环境试验方法 冲击、碰撞或自由跌落与高温、低温
-
GB/T 12085.18-2011
光学和光学仪器 环境试验方法 第18部分：湿热、低内压综合试验
-
GB/T 1185-2006
光学零件表面疵病
-
GB/T 26332.1-2018
光学和光子学 光学薄膜 第1部分：定义
-
GB/T 26827-2011
波片相位延迟测量装置的校准方法
-
JBT 9312-1999
光学零件包装
-
GB/T 12085.16-2010
光学和光学仪器 环境试验方法 第16部分：弹跳或恒加速度与高温、低温综合试验
-
GB/T 12085.5-1989
光学和光学仪器 环境试验方法 综合低温、低气压
-
ZB Y 251-1984
光学仪器防霉、防雾、防锈技术要求
-
GB/T 16492-1996
光学和光学仪器 环境要求 总则、定义、气候带及其参数
-
GB/T 12085.6-2010
光学和光学仪器 环境试验方法 第6部分：砂尘
-
GB/T 4315.1-2009
光学传递函数 第1部分：术语、符号
打开设置，点击
执行注册
