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GB/T 14849.4-2008 工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method基本信息
- 标准号:GB/T 14849.4-2008
- 名称:工业硅化学分析方法 第4部分:电感耦合等离子体原子发射光谱法测定元素含量
- 英文名称:Methods for chemical analysis of silicon metal - Part 4:Determination of elements content Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
- 状态:废止
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2008-06-09
- 实施日期:2008-12-01
- 废止日期:2015-08-01
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:本部分规定了工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定方法。
本部分适用于工业硅中铁、铝、钙、钛、锰、镍含量的测定,测定范围见表1。 - 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 提出部门:中国有色金属工业协会
- 主管部门:中国有色金属工业协会
- 归口单位:全国有色金属标准化技术委员会
- 起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院 中国有色金属工业标准计量质量研究所等
相关人员
暂无
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