GB/T 4074.1-2008

绕组线试验方法 第1部分：一般规定

Winding wires - Test methods - Part 1: General

现行

国家标准

推荐性

2008-04-23

2008-12-01

暂无

实施公告【】

暂无

GB/T4074-2008《绕组线试验方法》分为八个部分:
---第1部分:一般规定;
---第2部分:尺寸测量;
---第3部分:机械性能;
---第4部分:化学性能;
---第5部分:电性能;
---第6部分:热性能;
---第7部分:测定漆包绕组线温度指数的试验规程(考虑中);
---第8部分:测定漆包绕组线温度指数的试验规程 快速法(考虑中)。
本部分为GB/T4074的第1部分。
本部分等同采用IEC608511:1996《绕组线试验方法-第1部分:一般规定》第2.0版(英文版)和
第1号修改单(2003年)。为便于使用,本部分做了下列修改:
---用小数点.代替作为小数点的逗号,;
---补充了正常视力的定义;
---补充了型式试验、抽样试验和例行试验的定义;
---纠正了IEC 原文中的如下错误:
a)将附录A 中第5部分第7章的试验方法22改为试验方法23;
b)修改了附录A 中第6部分第4章试验方法10软化击穿试验的适用范围。
本部分自实施之日起代替GB/T4074.1-1999。
本部分与GB/T4074.1-1999相比,主要变化如下:
---将附录A 中第3部分的5.5.4薄膜绕包线的附着性试验方法适用范围改为仅适用于黏结性薄膜绕包线;
---将附录A 中第3部分第7章中的试验方法18热黏合和溶剂黏合试验改为热黏合;
---在附录A 中第3部分增加资料性附录B摩擦试验方法;
---将附录A 中第5部分第6章的介质损耗因数适用范围改为适用于漆包线和束线;
---在附录A 中第5部分电性能试验中增加4.6丝包圆线,增加规范性附录A损耗因数法;
---修改了附录A 中第6部分第4章中试验方法10软化击穿试验的适用范围;
---将提示性的附录A 改为资料性附录A。
本部分的附录A 为资料性附录。
本部分由中国电器工业协会提出。
本部分由全国电线电缆标准化技术委员会归口。
本部分负责起草单位:上海电缆研究所。
本部分参加起草单位:福州大通机电有限公司、铜陵精达特种电磁线股份有限公司、上海申茂电磁线有限公司、上海裕生特种线材有限公司、广东蓉胜超微线材股份有限公司、天津耐克森电磁线有限公司。
本部分主要起草人:李福、刘冰、郑守国、刘明福、邵武军、刘贵忠、袁卫国。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T4074.1-1983、GB/T1343.1-1984、GB/T4074.1-1999。

GB/T 4074的本部分为绕组线试验方法的一般规定，同时也给出了GB/T 4074中使用的术语和定义。GB/T 4074.2～GB/T 4074.6的内容一览表见附录A。

下列文件中的条款通过GB/T4074的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
GB/T4074.2 绕组线试验方法 第2 部分:尺寸测量(GB/T4074.2-2008,IEC60851-2:1997,IDT)
GB/T4074.3 绕组线试验方法 第3部分:机械性能(GB/T4074.3-2008,IEC60851-3:1997,IDT)
GB/T4074.4 绕组线试验方法 第4部分:化学性能(GB/T4074.4-2008,IEC60851-4:2005,IDT)
GB/T4074.5 绕组线试验方法 第5 部分:电性能(GB/T4074.5-2008,IEC60851-5:2004,IDT)
GB/T4074.6 绕组线试验方法 第6 部分:热性能(GB/T4074.6-2008,IEC60851-6:1996,IDT)
IEC60317 特种绕组线产品标准

GB/T 4074.1-1999

GB/T 4074.2 GB/T 4074.3 GB/T 4074.4 GB/T 4074.5 GB/T 4074.6 IEC 60317

IEC 60851-1:1996 绕组线试验方法 第1部分：一般规定 （等同采用 IDT）

中国电器工业协会

中国电器工业协会

福州大通机电有限公司 上海电缆研究所 精达特种电磁线股份有限公司等

全国电线电缆标准化技术委员会