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GB/T 22319.8-2008 石英晶体元件参数的测量 第8部分：表面贴装石英晶体元件用测量夹具
Measurement of quartz crystal unit parameters - Part 8: Test fixture for surface mounted quartz crystal units
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
电子学（31）
频率控制和选择用压电器件与介质器件（31.140）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
电子元件（L10/34）
石英晶体、压电元件（L21）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
GB/T22319《石英晶体元件参数的测量》分为如下几部分:
---第1部分:用π型网络零相位法测量石英晶体元件谐振频率和谐振电阻的基本方法;
---第2部分:测量石英晶体元件动态电路的相位偏置法;
---第3部分:利用有并电容C0补偿的π型网络相位法测量频率达200 MHz的石英晶体元件两端网络参数的基本方法;
---第4部分:频率达30MHz石英晶体元件负载谐振频率和负载谐振电阻犚L 的测量方法及其他导出参数的计算;
---第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法;
---第6部分:激励电平相关性(DLD)的测量;
---第7部分:石英晶体元件活力和频率降的测量;
---第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具;
---第9部分:石英晶体元件寄生谐振的测量。
本部分为GB/T22319的第8部分。
本部分等同采用IEC60444-8:2003《石英晶体元件参数的测量 第8部分:表面贴装石英晶体元件用测量夹具》(英文版)。
为便于使用,本部分作了下列编辑性修改:
a) 删除国际标准的前言;
b) 删除国际标准的引言;
c) 将本部分的各图集中到正文最后;
d) 将原文6.1第二段中50±5%改为50×(1±5%)Ω。
本部分由中华人民共和国信息产业部提出。
本部分由全国频率控制和选择用压电器件标委会归口。
本部分起草单位:中国电子元件行业协会压电晶体分会。
本部分主要起草人:章怡、姜连生。
-
适用范围：
暂无
-
引用标准：
下列文件中的条款通过GB/T22319的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本部分,然而,鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本部分。
IEC60444-1:1986 采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第1部分:采用π网络零相位技术测量石英晶体谐振频率和谐振电阻的基本方法
IEC60444-2:1980 采用π网络零相位技术测量石英晶体元件参数 第2部分:用相位偏置法测量石英晶体元件的动态电容
IEC60444-5:1995 石英晶体元件参数的测量 第5部分:采用自动网络分析技术和误差校正确定等效电参数的方法
IEC61240:1994 压电器件 频率控制和选择用表面贴装器件(SMD)外形制图 总则
相关标准
相关部门
-
主管部门：
工业和信息化部（电子）
-
归口单位：
全国频率控制和选择用压电器件标准化技术委员会
-
起草单位：
中国电子件行业协会压电晶体分会
相关人员
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