GB/T 22092-2008

电子数显测微头和深度千分尺

Fixed micrometer and depth micrometer with electronic digital display

废止

国家标准

推荐性

2008-06-25

2009-01-01

2018-12-03

实施公告【】
修订公告【关于批准发布《大型游乐设施安全规范》等389项国家标准、6项国家标准修改单和54项国家标准外文版的公告】

暂无

本标准的附录A 为资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。
本标准负责起草单位:苏州麦克龙测量技术有限公司。
本标准参加起草单位:成都工具研究所。
本标准主要起草人:黄晓宾、张洪玲、姜志刚。

本标准规定了电子数显测微头和深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。
本标准适用于分辨力高于或等于0.001　mm，量程小于或等于30　mm的电子数显测微头和深度千分尺。量程等于50　mm的电子数显测微头和深度千分尺参见附录A。

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
GB/T1216-2004 外径千分尺
GB/T2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验(IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14:1984,IDT)
GB4208-2008 外壳防护等级(IP代码)
GB/T17163 几何量测量器具术语 基本术语
GB/T17164 几何量测量器具术语 产品术语
GB/T17626.2-2006 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验(IEC61000-4-2:2001,IDT)
GB/T17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4-3:2002,IDT)

GB/T 1216-2004 GB/T 2423.3-2006 GB/T 2423.22-2002 GB 4208-2008 GB/T 17163 GB/T 17164 GB/T 17626.2-2006 GB/T 17626.3-2006

中国机械工业联合会

中国机械工业联合会

全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC 132)

苏州麦克龙测量技术有限公司 成都工具研究所