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GB/T 22092-2008 电子数显测微头和深度千分尺
Fixed micrometer and depth micrometer with electronic digital display
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
计量学和测量、物理现象（17）
长度和角度测量（17.040）
测量仪器仪表（17.040.30）
】
-
CCS分类：
【
机械（J）
工艺装备（J40/49）
量具与量仪（J42）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准的附录A 为资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国量具量仪标准化技术委员会(SAC/TC132)归口。
本标准负责起草单位:苏州麦克龙测量技术有限公司。
本标准参加起草单位:成都工具研究所。
本标准主要起草人:黄晓宾、张洪玲、姜志刚。
-
适用范围：
本标准规定了电子数显测微头和深度千分尺的术语和定义、型式与基本参数、要求、试验方法、检验方法、标志与包装等。
本标准适用于分辨力高于或等于0.001 mm，量程小于或等于30 mm的电子数显测微头和深度千分尺。量程等于50 mm的电子数显测微头和深度千分尺参见附录A。
-
引用标准：
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
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GB/T2423.3-2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验(IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.22-2002 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化(IEC60068-2-14:1984,IDT)
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GB/T17164 几何量测量器具术语 产品术语
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GB/T17626.3-2006 电磁兼容 试验和测量技术 射频电磁场辐射抗扰度试验(IEC61000-4-3:2002,IDT)
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