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GB/T 22586-2008 高温超导薄膜微波表面电阻测试

Measurements of microwave surface resistance of resistance of HTSC thin film
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准等同采用ＩＥＣ６１７８８-７：２００６《电子性能测量　微波频率下超导体的表面电阻》（英文版），在技术内容上与该国际标准一致。为了便于使用，本标准做了下列编辑性修改：
    ａ）用“本标准”代替“本国际标准”。
    ｂ）将“ＩＥＣ／ＴＣ９０引言”改为“引言”等有关内容。
    ｃ）用小数点“．”代替作为小数的“，”。
    本标准的附录Ａ 为资料性附录。
    本标准由国家超导技术联合研究开发中心和全国超导标准化技术委员会提出。
    本标准由全国超导标准化技术委员会归口。
    本标准负责起草单位：电子科技大学。
    本标准参加起草单位：清华大学、南京大学、中国科学院物理研究所。
    本标准主要起草人：罗正祥、刘宜平、李宏成、吉争鸣、郑东宁、许伟伟、张其劭、魏斌、曾成。
  • 适用范围：
    本标准规定了在微波频率下利用双谐振器法测试超导体表面电阻的方法。测试目标是在谐振频率下RS随温度的变化。
  • 引用标准：
    下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本标准。
    ＧＢ／Ｔ１３８１１—２００３　电工术语　超导电性（ＩＥＣ６００５０-８１５：２０００，ＥＱＶ）
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 13811-2003
  • 采用标准：
    IEC 61788-7:2006 电子性能测量 微波频率下超导体的表面电阻 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 起草单位：
    清华大学 电子科技大学 南京大学等
  • 提出部门：
    中国科学院
  • 归口单位：
    全国超导标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准