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GB/T 17362-2008 黄金制品的扫描电镜X射线能谱分析方法
Analysis method for gold products with X-ray EDS in SEM
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
化工技术（71）
分析化学（71.040）
有关分析化学的其他标准（71.040.99）
】
-
CCS分类：
【
仪器、仪表（N）
物质成份分析仪器与环境监测仪器（N50/59）
电化学、热化学、光学式分析仪器（N53）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准代替GB/T17362-1998《黄金饰品的扫描电镜X 射线能谱分析方法》和GB/T17723-1999《黄金制品镀层成分的X 射线能谱测量方法》两个标准。
本标准与GB/T17362-1998和GB/T17723-1999两个标准相比主要修改如下:
---将适用范围进行了合并,使其能分别适用于不同含金量的K 金制成的黄金制品和表面有含金镀层的镀金制品的镀层成分的测定这两种情况;
---将原来两个标准的相关章节,删去重复的部分,对不同的部分进行整理加工形成新的文本;
---删去了GB/T17723中术语这一节;
---原标准中饰品一律改为制品;
---本标准不再规定选用的校正程序,操作人员可根据实际分析的试样,自行选择采用;
---着重强调测定镀层制品时,工作电压的选择,这是对镀层成分能否测准的关键所在。
本标准的附录A 为规范性附录。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:北京有色金属研究总院、核工业总公司北京地质研究院、北京钢铁研究总院。
本标准主要起草人:刘安生、张宜、毛允静。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T17362-1998;
---GB/T17723-1999。
-
适用范围：
1.1 本标准规定了用配置在扫描电镜上的X射线能谱仪对黄金制品化学成分进行无损定量分析的方法和技术要求。
1.2 本标准适用于各种纯金制品和K金制品化学成分的测定，也适用于各种镀金、包金、锻压金等制品表面含金层厚度为0.2 μm以上，3 μm以下的表面层化学成分无损测定。
1.3 本标准适用于黄金制品中质量分数在0.1%～100%的元素定量分析。本标准也适用于配置在电子探针分析仪上的X射线能谱仪对黄金制品的分析。
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引用标准：
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
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