GB/T 2423.25-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验Z/AM：低温/低气压综合试验

Environmental testing - Part 2: Tests methods - Test Z/AM: Combined cold/low air pressure tests

废止

国家标准

推荐性

2008-12-30

2009-10-01

2020-12-01

实施公告【】
修订公告【关于批准发布《钢铁及合金 氮含量的测定蒸馏分离靛酚蓝分光光度法》等236项推荐性国家标准的公告】

暂无

ＧＢ／Ｔ２４２３．２５是ＧＢ／Ｔ２４２３标准的第２５部分。ＧＢ／Ｔ２４２３标准的组成部分见资料性附录ＮＡ。
本部分等同采用国际电工委员会ＩＥＣ６００６８-２-４０：１９７６（第一版）《基本环境试验规程　第２部分：
试验　试验Ｚ／ＡＭ：低温／低气压综合试验》（英文版）及其修订１：１９８３。为便于使用，本部分做了下列编辑性修改：
———为与新版ＩＥＣ６００６８的标题名称一致，本部分标题名称由“基本环境试验规程”改为“电工电子产品环境试验”；
———“ＩＥＣ６００６８-２-４０：１９７６本部分”修改为“ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—２００８本部分”；
———删除了ＩＥＣ６００６８-２-４０：１９７６的前言和序；
———增加了国家标准的前言；
———增加了规范性引用文件一览表的引导语；引用了与国际标准有对应关系的国家标准，并改变了排列顺序；
———增加了资料性附录“ＧＢ／Ｔ２４２３标准的组成部分”（见附录ＮＡ）。
本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２《电工电子产品基本环境试验规程　试验Ｚ／ＡＭ：低温／低气压综合试验》。本部分与ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２相比主要变化如下：
———ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２是参照采用国际电工委员会ＩＥＣ６００６８?２?４０：１９７６（第一版）《基本环境试验规程　第２部分：试验　试验Ｚ／ＡＭ：低温／低气压综合试验》（英文版）及其修订１：１９８３，
本部分是等同采用；
———为与ＩＥＣ 原文一致，本部分将图１和图２改为图１ａ）和图１ｂ），并置于正文最后；
———为与ＩＥＣ 原文编写格式一致，本部分将４．１．１和４．１．２合并在一起；５．１．１、５．１．２和５．１．３合并在一起；８．１．１和８．１．２合并在一起；
———本部分表１中没有列出与温度、气压对应的高度值，三者的关系见专门标准；并增加了以ｍｂａｒ为单位的气压值；
———本部分８．２．８压力升高期间不要求温度控制。
本部分的附录ＮＡ 为资料性附录。
本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并归口。
本部分由广州电器科学研究院起草。
本部分主要起草人：胡利芬。
本部分所代替部分的历次版本发布情况为：
———ＧＢ２４２３．２５—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２３．２５—１９９２。

GB/T 2423的本部分是关于散热和非散热试验样品低温(温度渐变或突变)和低气压综合试验，见8.2.2和8.2.8。
本试验目的是确定元件、设备和其他产品对其贮存和使用中遇到的低温低气压综合环境的适应性。
本综合试验通常只有在试验样品进行单一环境试验不能揭示综合环境影响时使用。本部分规定的试验程序只适用于在试验期间能够达到温度稳定的试验样品。
本部分规定的试验方法一次只能试验一个散热试验样品。

下列文件中的条款通过ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
ＧＢ／Ｔ２４２１．１　电工电子产品环境试验　第１ 部分：总则（ＧＢ／Ｔ２４２１．１—２００８，ＩＥＣ６００６８?１：
１９８８，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２３．１　电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ａ：低温（ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１，ＩＥＣ６００６８-２-１：２００７，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２３．２１　电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ｍ：低气压（ＧＢ／Ｔ２４２３．２１—２００８，ＩＥＣ６００６８?２?１３：２００５，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２３．２２　电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ｎ：温度变化（ＧＢ／Ｔ２４２３．２２—２００２，ＩＥＣ６００６８?２?１４：１９８４，ＩＤＴ）１）
ＧＢ／Ｔ２４２４．１　电工电子产品环境试验　高温低温试验导则（ＧＢ／Ｔ２４２４．１—２００５，ＩＥＣ６００６８-３-１：１９７４，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２４．１５　电工电子产品基本环境试验规程　温度／低气压综合试验导则（ＧＢ／Ｔ２４２４．１５—２００８，ＩＥＣ６００６８-３-２：１９７６，ＩＤＴ）

GB/T 2423.25-1992

GB/T 2421.1 GB/T 2423.1 GB/T 2423.21 GB/T 2423.22 GB/T 2424.1 GB/T 2424.15

IEC 68-2-40:1976 基本环境试验规程 第2部分：试验 试验Z/AM：低温/低气压综合试验 （等同采用 IDT）

中国电器工业协会

全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC 8)

广州电器科学研究院