GB/T 2423.1-2008

电工电子产品环境试验 第2部分：试验方法 试验A： 低温

Environmental testing - Part 2: Test methods - Tests A: Cold

现行

国家标准

推荐性

2008-12-30

2009-10-01

暂无

实施公告【】

暂无

ＧＢ／Ｔ２４２３．１是ＧＢ／Ｔ２４２３标准的第１部分，ＧＢ／Ｔ２４２３标准的组成部分见资料性附录ＮＡ。
本部分等同采用ＩＥＣ６００６８２１：２００７《环境试验　第２１部分：试验　试验Ａ：低温》（英文版）。
本部分与ＩＥＣ６００６８２１：２００７相比，主要做了下列编辑性修改：
———本部分的名称改为：《电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ａ：低温》；
———“本标准”一词改为“本部分”；
———删除了ＩＥＣ６００６８２１：２００７前言；
———删除了ＩＥＣ６００６８２１：２００７引言，将其内容转化为增加的资料性附录ＮＢ的内容；
———增加了资料性附录“ＧＢ／Ｔ２４２３标准的组成部分”（见附录ＮＡ）；
———增加了资料性附录“试验Ａ：低温和试验Ｂ：高温的分类代号小写字母之间的关系”（见附录ＮＢ）；
———删除了第１章第１段中的“对于非散热试验样品，”；
———第１章中最后两段的内容移到４．１中；
———４．３标题“非散热试验样品”改为“非散热试验样品的试验”；
———６．２最后一段原文为正文，本部分改为注。
为清晰起见，上述修改已在正文相应位置加了脚注。
本部分代替ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１《电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ａ：低温》，与之相比，主要变化如下：
———删除了试验Ａａ：非散热试验样品温度突变的低温试验；
———删除了附录Ａ、附录Ｂ、附录Ｃ、附录Ｄ、附录Ｅ；
———增加了试验Ａｅ：散热试验样品温度渐变的低温试验———试验样品在整个试验过程通电。
本部分的附录ＮＡ、附录ＮＢ为资料性附录。
本部分由全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会（ＳＡＣ／ＴＣ８）提出并归口。
本部分由广州电器科学研究院负责起草。
本部分主要起草人：张志勇。
本部分所代替标准的历次版本发布情况为：
———ＧＢ／Ｔ２４２３．１—１９８１、ＧＢ／Ｔ２４２３．１—１９８９、ＧＢ／Ｔ２４２３．１—２００１。

GB/T 2423的本部分规定的低温试验适用于非散热和散热试验样品。试验Ab和试验Ad与早期版本无实质性的差异1），增加试验Ae的目的主要是检测那些要求在整个试验过程包括降温调节期间都要通电运行的设备。
本低温试验的目的仅限于用来确定元件、设备或其他产品在低温环境下使用、运输或贮存的能力。
本低温试验不能用来评价试验样品耐温度变化的能力和在温度变化环境下的运行能力，在这种情况下，应采用GB/T 2423.22。

下列文件中的条款通过ＧＢ／Ｔ２４２３的本部分的引用而成为本部分的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本部分，然而，鼓励根据本部分达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本适用于本部分。
ＧＢ／Ｔ２４２１　电工电子产品环境试验　第１部分：总则（ＧＢ／Ｔ２４２１—１９９９，ｉｄｔＩＥＣ６００６８-１：１９８８）
ＧＢ／Ｔ２４２２　电工电子产品环境试验　术语（ＧＢ／Ｔ２４２２—１９９５，ｅｑｖＩＥＣ６００６８-５-２：１９９０）
ＧＢ／Ｔ２４２３．２２　电工电子产品环境试验　第２部分：试验方法　试验Ｎ：温度变化（ＧＢ／Ｔ２４２３．２２—２００２，ＩＥＣ６００６８２１４：１９８４，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２４．１　电工电子产品环境试验　高温低温试验导则（ＧＢ／Ｔ２４２４．１—２００５，ＩＥＣ６００６８-３-１：１９７４，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２４．５　电工电子产品环境试验　温度试验箱性能确认（ＧＢ／Ｔ２４２４．５—２００６，ＩＥＣ６００６８-３-５：２００１，ＩＤＴ）
ＧＢ／Ｔ２４２４．７　电工电子产品环境试验　试验Ａ 和试验Ｂ（带负载）用温度试验箱的测量
（ＧＢ／Ｔ２４２４．７—２００６，ＩＥＣ６００６８-３-７：２００１，ＩＤＴ）
ＩＥＣ６０７２１（所有部分）　环境条件分级

GB/T 2423.1-2001

GB/T 2421 GB/T 2422 GB/T 2423.22 GB/T 2424.1 GB/T 2424.5 GB/T 2424.7 IEC 60721(所有部分)

IEC 60068-2-1:2007 环境试验 第2-1部分：试验方法　试验A：低温 （等同采用 IDT）

中国电器工业协会

全国电工电子产品环境条件与环境试验标准化技术委员会(SAC/TC 8)

广州电器科学研究院