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GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法

Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 23413-2009
  • 名称：
    纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
  • 英文名称：
    Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2009-04-01
  • 实施日期：
    2009-12-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准的附录Ａ 为规范性附录。
    本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。
    本标准起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。
    本标准主要起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。
  • 适用范围：
    本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
    本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
  • 引用标准：
    ＧＢＷ（Ｅ）１３００１４　Ｘ 射线衍射硅粉末标准物质
    ＧＢＷ（Ｅ）１３００１６　Ｘ 射线衍射仪校正用αＳｉＯ２ 标准物质
相关标准
  • 引用标准：
    GBW(E)130014 GBW(E)130016
相关部门
  • 主管部门：
    国家标准化管理委员会
  • 起草单位：
    钢铁研究总院 首钢技术研究院
  • 归口单位：
    全国微束标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准