收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
-
CCS分类：
【
仪器、仪表（N）
试验机与无损探伤仪器（N70/79）
Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器（N78）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准的附录Ａ 为规范性附录。
本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。
本标准主要起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。
-
适用范围：
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
-
引用标准：
ＧＢＷ（Ｅ）１３００１４ Ｘ 射线衍射硅粉末标准物质
ＧＢＷ（Ｅ）１３００１６ Ｘ 射线衍射仪校正用αＳｉＯ２ 标准物质
相关标准
相关部门
-
主管部门：
国家标准化管理委员会
-
起草单位：
钢铁研究总院
首钢技术研究院
-
归口单位：
全国微束标准化技术委员会
相关人员
关联标准
-
GB/T 27664.1-2011
无损检测 超声检测设备的性能与检验 第1部分：仪器
-
GB/T 23901.2-2009
无损检测 射线照相底片像质 第2部分：阶梯孔型像质计 像质指数的测定
-
JB/T 11602.3-2013
无损检测仪器 X射线管电压的测量和评定 第3部分：能谱检测
-
ZB N 78001-1986
工业X射线探伤机 主要参数系列
-
JB/T 11608-2013
无损检测仪器 工业用X射线探伤装置
-
GB/T 23901.2-2019
无损检测 射线照相检测图像质量 第2部分：阶梯孔型像质计像质值的测定
-
GB/T 23901.5-2009
无损检测 射线照相底片像质 第5部分：双线型像质计 图像不清晰度的测定
-
GB/T 35394-2017
无损检测 X射线数字成像检测 系统特性
-
GB/T 34361-2017
无损检测 扫频涡流检测方法
-
GB/T 41114-2021
无损检测 超声检测 相控阵超声检测标准试块规范
-
GB/T 33885-2017
无损检测仪器 抽样、出厂检验、型式检验基本要求
-
GB/T 35393-2017
无损检测 非铁磁性金属电磁（涡流）分选方法
-
GB/T 30820-2014
无损检测 绝对式涡流探头阻抗测定方法
-
JB/T 11130-2011
工业内窥镜
-
GB/T 12604.7-2014
无损检测 术语 泄漏检测
-
GB/T 12604.9-1996
无损检测术语 红外检测
-
JB/T 11604-2013
无损检测仪器 超声波测厚仪
-
GB/T 19803-2005
无损检测 射线照相像质计 原则与标识
-
GB/T 9443-2007
铸钢件渗透检测
-
GB/T 14480.2-2015
无损检测仪器 涡流检测设备 第2部分：探头性能和检验
打开设置，点击
执行注册
