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GB/T 23413-2009 纳米材料晶粒尺寸及微观应变的测定 X射线衍射线宽化法
Determination of crystallite size and micro-strain of nano-materials - X-ray diffraction line broadening method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
-
CCS分类：
【
仪器、仪表（N）
试验机与无损探伤仪器（N70/79）
Ｘ射线、磁粉、荧光及其他探伤仪器（N78）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准的附录Ａ 为规范性附录。
本标准由全国微束标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位：钢铁研究总院、首钢技术研究院。
本标准主要起草人：方建锋、郑毅、李琪、张晋远、柳春兰、朱瑞珍。
-
适用范围：
本标准规定了利用X射线衍射线宽化法来测定纳米材料晶粒尺寸和微观应变的方法。本标准采用的计算方法是近似函数法。
本标准适用于测定晶粒尺寸一般不大于100 nm，微观应变一般不大于0.1%的纳米材料。
-
引用标准：
ＧＢＷ（Ｅ）１３００１４ Ｘ 射线衍射硅粉末标准物质
ＧＢＷ（Ｅ）１３００１６ Ｘ 射线衍射仪校正用αＳｉＯ２ 标准物质
相关标准
相关部门
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主管部门：
国家标准化管理委员会
-
起草单位：
钢铁研究总院
首钢技术研究院
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归口单位：
全国微束标准化技术委员会
相关人员
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