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GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语
Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
综合、术语学、标准化、文献（01）
词汇（01.040）
成像技术（词汇）（01.040.37）
】、
【
成像技术（37）
光学设备（37.020）
】
-
CCS分类：
【
仪器、仪表（N）
光学仪器（N30/39）
电子光学与其他物理光学仪器（N33）
】
-
行标分类：
暂无
描述信息
-
前言：
本标准等同采用国际标准ISO22493:2008《微束分析 扫描电子显微术 术语》(英文版)。
为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
---本国际标准一词改为本标准;
---删除国际标准的前言。
---扫描电子显微镜简称扫描电镜。
---增加了中文索引。
本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
本标准主要起草人:李香庭、曾毅。
-
适用范围：
本标准定义了扫描电子显微术（SEM）实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语，也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外，本标准的某些术语定义，也适用于相关领域的文件〔例如：电子探针显微分析（EPMA）、分析电子显微术（AEM）、能谱法（EDX）等〕。
-
引用标准：
暂无
相关标准
相关部门
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起草单位：
中国科学院上海硅酸盐研究所
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主管部门：
国家标准化管理委员会
-
提出部门：
全国微束分析标准化技术委员会
-
归口单位：
全国微束分析标准化技术委员会
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