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GB/T 23414-2009 微束分析 扫描电子显微术 术语

Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 23414-2009
  • 名称:
    微束分析 扫描电子显微术 术语
  • 英文名称:
    Microbeam analysis - Scanning electron microscopy - Vocabulary
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2009-04-01
  • 实施日期:
    2009-12-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【】
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分类信息
  • ICS分类:
    综合、术语学、标准化、文献(01) 词汇(01.040) 成像技术(词汇)(01.040.37) 】、
    成像技术(37) 光学设备(37.020)
  • CCS分类:
    仪器、仪表(N) 光学仪器(N30/39) 电子光学与其他物理光学仪器(N33)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    本标准等同采用国际标准ISO22493:2008《微束分析 扫描电子显微术 术语》(英文版)。
    为了便于使用,本标准做了下列编辑性修改:
    ---本国际标准一词改为本标准;
    ---删除国际标准的前言。
    ---扫描电子显微镜简称扫描电镜。
    ---增加了中文索引。
    本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
    本标准起草单位:中国科学院上海硅酸盐研究所。
    本标准主要起草人:李香庭、曾毅。
  • 适用范围:
    本标准定义了扫描电子显微术(SEM)实践中使用的术语。包括一般术语和按技术分类的具体概念的术语,也包括已经在ISO 23833中定义的术语。
    本标准适用于所有有关SEM实践的标准化文件。另外,本标准的某些术语定义,也适用于相关领域的文件〔例如:电子探针显微分析(EPMA)、分析电子显微术(AEM)、能谱法(EDX)等〕。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
  • 采用标准:
    ISO 22493:2008 微束分析 扫描电子显微术 术语 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 起草单位:
    中国科学院上海硅酸盐研究所
  • 主管部门:
    国家标准化管理委员会
  • 提出部门:
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 归口单位:
    全国微束分析标准化技术委员会
相关人员
暂无
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