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SJ/T 11405-2009 光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11405-2009
  • 名称:
    光纤系统用半导体光电子器件 第2部分:测量方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2009-11-17
  • 实施日期:
    2010-01-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2010年第1号(总第121号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 光电子器件(L50/54) 光电子器件综合(L50)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    主要规定了光发射器件的辐射功率、正向电流、开关时间等电参数和光电参数的测量方法,以及光电探测器件的噪声、开关时间、响应度等电参数和光电参数的测量方法。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    信息产业部电子工业研究
相关人员
暂无
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