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SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
Measurement methods for chips of light emitting diodes
基本信息
分类信息
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ICS分类:
【
电子学(31)
光电子学、激光设备(31.260)
】
-
CCS分类:
【
电子元器件与信息技术(L)
半导体分立器件(L40/49)
微波、毫米波二、三极管(L45)
】
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行标分类:
描述信息
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