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SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
Measurement methods for chips of light emitting diodes基本信息
- 标准号:SJ/T 11399-2009
- 名称:半导体发光二极管芯片测试方法
- 英文名称:Measurement methods for chips of light emitting diodes
- 状态:现行
- 类型:行业标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2009-11-17
- 实施日期:2010-01-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:【 】
描述信息
- 前言:暂无
- 适用范围:主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
- 引用标准:暂无
相关标准
暂无
相关部门
- 起草单位:杭州浙大三色仪器有限公司 厦门华联电子有限公司 中国光学光电子行业协会光电器件分会 深圳淼浩高新科技有限公司
相关人员
暂无
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