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SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法
Measurement methods for chips of light emitting diodes
基本信息
分类信息
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ICS分类：
【
电子学（31）
光电子学、激光设备（31.260）
】
-
CCS分类：
【
电子元器件与信息技术（L）
半导体分立器件（L40/49）
微波、毫米波二、三极管（L45）
】
-
行标分类：
描述信息
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