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SJ/T 11399-2009 半导体发光二极管芯片测试方法

Measurement methods for chips of light emitting diodes
基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11399-2009
  • 名称:
    半导体发光二极管芯片测试方法
  • 英文名称:
    Measurement methods for chips of light emitting diodes
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2009-11-17
  • 实施日期:
    2010-01-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    主要规定了电学参数、热学参数、色度学参数以及静电放电敏感性测试等主要性能参数的测试方法。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    杭州浙大三色仪器有限公司 厦门华联电子有限公司 中国光学光电子行业协会光电器件分会 深圳淼浩高新科技有限公司
相关人员
暂无