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SJ/T 11394-2009 半导体发光二极管测试方法

基本信息
  • 标准号:
    SJ/T 11394-2009
  • 名称:
    半导体发光二极管测试方法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    行业标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2009-11-17
  • 实施日期:
    2010-01-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2010年第1号(总第121号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    暂无
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 半导体分立器件(L40/49) 微波、毫米波二、三极管(L45)
  • 行标分类:
    电子(SJ)
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    主要规定了半导体发光二极管电特性测试方法、光特性测试方法、光电特性测试方法、颜色特性测试方法、热学特性测试方法和静电放电敏感性测试方法等。
  • 引用标准:
    暂无
相关标准
暂无
相关部门
  • 起草单位:
    中国光学光电子行业协会光电器件分会
相关人员
暂无
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