收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 2831-2009 光学零件的面形偏差
Surface form deviation of optical elements
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
成像技术(37)
光学设备(37.020)
】
-
CCS分类:
【
仪器、仪表(N)
光学仪器(N30/39)
光学仪器综合(N30)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
-
前言:
本标准对应ISO10110-5:2007《光学和光子学 光学零件和光学系统图样 第5部分:面形公差》,与ISO10110-5:2007的一致性程度为非等效。
本标准与ISO10110-5:2007的主要差异:
---删除国际标准的序言和前言;
---增加了术语和定义;
---增加了光圈识别检验方法;
---增加了面形偏差的未注公差规定;
---增加了不规则干涉条纹判读及有关数字干涉条纹解析内容。
本标准代替GB/T 2831-1981《光学零件面形偏差的检验方法(光圈识别法)》,本标准与GB/T2831-1981的主要差异为:
---修改了标准名称;
---增加了术语和定义,明确了PV 值及rms值的定义;
---增加了面形偏差的公差的单位规定;
---增加了面形偏差的画图表示,并修改了面形偏差的表示方法及表示位置;
---增加了未注公差的标注规定;
---增加了数字化PV 值及rms值的测量问题;
---将换算公式、光圈识别方法放入附录A 和附录B;
---增加了不规则干涉条纹判读及数字干涉条纹解析,并将其内容放入附录C。
本标准的附录A 是规范性附录,附录B、附录C 和附录D 是资料性附录。
本标准由中国机械工业联合会提出。
本标准由全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC103)归口。
本标准负责起草单位:宁波永新光学股份有限公司、上海光学精密机械研究所、上海理工大学、凤凰光学集团有限公司、江南永新光学有限公司、苏州一光仪器有限公司。
本标准参加起草单位:浙江舜宇集团股份有限公司、宁波华光精密仪器有限公司、宁波市教学仪器有限公司、麦克奥迪实业集团有限公司、贵阳新天光电科技有限公司、梧州奥卡光学仪器公司、南京东利来光电实业有限公司。
本标准主要起草人:曾丽珠、徐德衍、章慧贤、冯琼辉、邬子刚。
本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
---GB/T2831-1981。
-
适用范围:
本标准规定了光学零部件面形偏差的术语和定义、公差及检验方法。本标准适用于使用光学样板的等厚干涉方法及干涉仪方法检验光学零部件的面形偏差。
-
引用标准:
下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T13323 光学制图(GB/T13323-2009,ISO101101:2006,Opticsandphotonics-Preparationofdrawingsforopticalelementsandsystems-Part1:General,NEQ)
相关标准
相关部门
-
归口单位:
全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC
103)
-
主管部门:
全国光学和光子学标准化技术委员会(SAC/TC
103)
-
提出部门:
中国机械工业联合会
-
起草单位:
上海理工大学
宁波永新光学股份有限公司
苏州一光仪器有限公司
江南永新光学有限公司
上海光学精密机械研究所
凤凰光学集团有限公司
相关人员
关联标准
-
GB/T 11168-1989
光学系统像质测试方法
-
GB/T 1240-1976
光学样板
-
GB/T 19864.2-2005
体视显微镜 第2部分:高性能体视显微镜
-
GB/T 26827-2011
波片相位延迟测量装置的校准方法
-
JB/T 8226.1-1999
光学零件镀膜 减反射膜
-
JB/T 8231-1999
平面光栅摄谱仪 基本参数系列
-
GB/T 35124-2017
天文望远镜技术要求
-
JB/T 8226.3-1999
光学零件镀膜 外反射膜
-
JB/T 8234-1999
看谱镜
-
GB/T 27667-2011
光学系统像质评价 畸变的测定
-
GB/T 2609-2006
显微镜 物镜
-
GB/T 15488-1995
滤光玻璃
-
GB/T 13323-1991
光学制图
-
GB/T 12085.9-1989
光学和光学仪器 环境试验方法 太阳辐射
-
GB 12085.5-1989
光学和光学仪器环境试验方法 综合低温与低气压
-
DB35/T 1714-2017
福建省验光配镜企业质量技术服务管理规范
-
JB/T 8230.5-1999
显微镜 目镜和镜筒的配合尺寸
-
JB/T 5667-1991
光学和光学仪器 大地测量仪器术语
-
GB/T 17366-1998
矿物岩石的电子探针分析试样的制备方法
-
JB/T 10568-2006
光学样板