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YS/T 702-2009 X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method
基本信息
-
标准号:
YS/T 702-2009
-
名称:
X射线荧光光谱法测定氢氧化铝中SiO2、Fe2O3、Na2O含量
-
英文名称:
Determination of silicon oxide,Iron oxide,Sodium oxide content of Aluminum Hydroxide by X-ray fluorescence spectrometric method
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状态:
现行
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类型:
行业标准
-
性质:
推荐性
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发布日期:
2009-12-04
-
实施日期:
2010-06-01
-
废止日期:
暂无
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相关公告:
实施公告【2010年第4号(总第124号)】
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分类信息
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ICS分类:
【
冶金(77)
有色金属(77.120)
铝和铝合金(77.120.10)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
冶金原料与辅助材料(H30/34)
冶金原料与辅助材料综合(H30)
】
-
行标分类:
描述信息
-
前言:
本标准由全国有色金属标准化技术委员会提出并归口。
本标准附录A 为资料性附录。
本标准由中国铝业股份有限公司广西分公司负责起草。
本标准参加起草单位:中国铝业股份有限公司郑州研究院、洛阳香江万基铝业有限公司、中国铝业有限公司河南分公司。
本标准主要起草人:秦文忠、邓文军、杨韵屏、梁愈斌、何麒麟、张爱芬、马慧侠、蒋炜、邓飞、孙洪斌。
-
适用范围:
本标准规定了氢氧化铝中SiO、FeO、NaO含量的测定方法。
本标准适用于氢氧化铝中SiO、FeO、NaO含量的测定,测定范围见表1。
-
引用标准:
暂无
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