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SN/T 2698-2010 钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法
Elemental analysis of impurities in tungsten products—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
基本信息
分类信息
-
ICS分类：
【
冶金（77）
金属材料试验（77.040）
金属材料化学分析（77.040.30）
】
-
CCS分类：
【
冶金（H）
金属化学分析方法（H10/19）
稀有金属及其合金分析方法（H14）
】
-
行标分类：
描述信息
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