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SN/T 2698-2010 钨制品中杂质元素分析 电感耦合等离子体原子发射光谱法
Elemental analysis of impurities in tungsten products—Inductively coupled plasma atomic emission spectrometric method
基本信息
分类信息
-
ICS分类:
【
冶金(77)
金属材料试验(77.040)
金属材料化学分析(77.040.30)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
金属化学分析方法(H10/19)
稀有金属及其合金分析方法(H14)
】
-
行标分类:
描述信息
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