GB/T 26225-2010

信息技术 移动存储 闪存盘通用规范

Information technology - Mobile storage - General specification of flash disk

现行

国家标准

推荐性

2011-01-14

2011-05-01

暂无

实施公告【关于批准发布《人机界面标志标识的基本和安全规则操作规则》等611项国家标准的公告】

暂无

本标准由中华人民共和国工业和信息化部提出。
本标准由全国信息技术标准化技术委员会归口。
本标准起草单位:中国电子技术标准化研究所、普天信息技术研究院、联想(北京)有限公司、方正科技集团股份有限公司、北京华旗资讯数码科技有限公司、深圳市朗科科技有限公司、TCL集团股份有限公司、常州市音成电子有限公司、北京大恒创新技术有限公司、重庆禾兴江源科技有限公司、上海华虹集成电路有限责任公司、北京纽曼理想数码科技有限公司、武汉天喻信息产业股份有限公司、浙江欣成达光电科技有限公司。
本标准主要起草人:王立建、张力、张宇宏、李高强、熊国平、任建强、唐怀飞、李诺、秦柏、江卫强、谢春生、严小平、杨宇光、熊安艺、徐中强、刘昌魁、石磊、王涛、王元成。

本标准规定了闪存盘的术语和定义、要求、试验方法、检验规则、标志、包装、运输和贮存等相关内容。
本标准适用于闪存盘（以下简称“产品”），其他包含闪存盘功能模块的设备也可参考。

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T191—2000 包装储运图示标志(eqvISO780:1997)
GB/T242.1—2008 电工电子产品环境试验 概述和指南(IEC60068-1:1988,IDT)
GB/T2422—1995 电工电子产品环境试验 术语(IEC60068-5-2:1990,EQV)
GB/T2423.1—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温(IEC60068-2-1:2007,IDT)
GB/T2423.2—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温(IEC60068-2-2:2007,IDT)
GB/T2423.3—2006 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Cab:恒定湿热试验(IEC60068-2-78:2001,IDT)
GB/T2423.5—1995 电工电子产品环境试验 第5部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击(idtIEC60068-2-27:1987)
GB/T2423.6—1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞(idtIEC60068-2-29:1987)
GB/T2423.8—1995 电工电子产品环境试验 第二部分:试验方法 试验Ed:自由跌落(idtIEC60068-2-32:1990)
GB/T2423.10—2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc:振动(正弦)(IEC60068-2-6:1995,IDT)
GB/T2828.1—2003 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划(ISO2859-1:1999,IDT)
GB/T2829—2002 周期检验计数抽样程序及表(适用于对过程稳定性的检验)
GB/T5080.7—1986 设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案(idtIEC60605-7:1978)
GB/T5271.14—2008 信息技术 词汇 第14部分: 可靠性、可维护性与可用性(ISO2382-14:1997,IDT)
GB9254—2008 信息技术设备的无线电骚扰限值和测量方法(CISPR22:2006,IDT)
GB/T9813—2000 微型计算机通用规范
GB/T17618—1998 信息技术设备抗扰度限值和测量方法(idtCISPR24:1997)

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全国信息技术标准化技术委员会

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