收藏到云盘
纠错反馈
GB/T 25497-2010 吸气剂气体吸放性能测试方法
Test methods for gas absorbency and release of getters基本信息
- 标准号:GB/T 25497-2010
- 名称:吸气剂气体吸放性能测试方法
- 英文名称:Test methods for gas absorbency and release of getters
- 状态:现行
- 类型:国家标准
- 性质:推荐性
- 发布日期:2010-12-01
- 实施日期:2011-05-01
- 废止日期:暂无
- 相关公告:
分类信息
- ICS分类:【 】
- CCS分类:【 】
- 行标分类:暂无
描述信息
- 前言:本标准是将以下标准整合后进行修订的:
———GB/T6626.3—1986《释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂放气量的测试方法》;
———GB/T9506.4—1988《吸气剂放气量测试方法》;
———GB/T9506.5—1988《掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法》;
———GB/T9506.7—1988《蒸散型钡吸气剂吸气性能测试方法》;
———GB/T9506.8—1988《非蒸散型吸气剂吸气性能测试方法》。
本标准与原标准相比主要变化如下:
———删除定义的术语,在规范性引用文件中新增GB/T4314《吸气剂术语》;
———将蒸散型与非蒸散型吸气性能的测试方法合并为定压法的吸气性能测试方法,修订相应的测试设备要求。如对定压法测试分子流状态时的吸气性能系统的漏放率要求由统一的
1×10-7 Pa·L/s,改为在满足测试准确度要求的前提下,按特征吸着容量进行计算,吸气量大的吸气剂可以适当放宽;
———将定压法测试非蒸散型吸气剂的气体纯度的要求由99.8%提高到99.99%;
———将定压法测试蒸散型吸气剂吸气性能时,测不可吸收气体压强的时间由15 min 延长到25min;
———取消释汞吸气剂加热升温曲线,改为30s内线性加热到900°;
———去除GB6626.1—1986《释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法》中附录A 关于清洗含汞玻璃系统的部分;
———取消释汞吸气剂和非蒸散型吸气剂放气量计算时的气体修正系数;
———取消比放气量的计算;
———将蒸散型吸气剂放气量测试的起蒸时间由按使用领域划分更改为按含钡(钙…)量划分;
———取消GB/T9506.4—1988《吸气剂放气量测试方法》中附录B 吸气剂测试系统容积的推荐值;
———取消GB/T9506.5—1988《掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法》中关于蒸散线圈的要求;
———增加释汞吸气剂放气回吸动态曲线测试方法;
———增加定容法吸气性能测试方法;
———增加各温度的汞饱和蒸气压;
———根据GB/T1.1—2000的要求进行格式修订。
本标准代替下列标准:
———GB/T6626.3—1986《释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂放气量的测试方法》;
———GB/T9506.4—1988《吸气剂放气量测试方法》;
———GB/T9506.5—1988《掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线测试方法》;
———GB/T9506.7—1988《蒸散型钡吸气剂吸气性能测试方法》;
———GB/T9506.8—1988《非蒸散型吸气剂吸气性能测试方法》。
本标准的附录A、附录B、附录C是规范性附录。
本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出并归口。
本标准起草单位:南京华东赛斯真空材料有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究所、中国电子科技集团公司第十二研究所。
本标准主要起草人:薛函迎、郭卫斌、张巨先、刘筠。 - 适用范围:本标准规定了吸气剂放气量的测试方法、掺氮吸气剂释氮吸气动态曲线的测试方法、释汞吸气剂放气回吸曲线的测试方法、定压法吸气性能测试方法、定容法吸气性能测试方法等吸气剂气体吸放性能测试方法。
本标准适用于真空器件用吸气剂。 - 引用标准:下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
GB/T4314 吸气剂术语
相关标准
- 代替标准:GB/T 9506.7-1988 GB/T 9506.5-1988 GB/T 9506.4-1988 GB/T 6626.3-1986 GB/T 9506.8-1988
- 引用标准:GB/T 4314
相关部门
- 起草单位:中国电子科技集团公司第十二研究所 南京华东赛斯真空材料有限公司 工业和信息化部电子工业标准化研究所
- 提出部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 归口单位:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
- 主管部门:全国半导体设备和材料标准化技术委员会
相关人员
暂无
关联标准
- GB/T 32652-2016 多晶硅铸锭石英坩埚用熔融石英料
- GB/T 32649-2016 光伏用高纯石英砂
- GB 11297.2-1989 激光棒侧向散射系数的测量方法
- SJ 679-1983 DB-404电真空玻璃主要技术数据
- SJ/T 11508-2015 集成电路用 正胶显影液
- GB 11297.6-1989 锑化铟单晶位错蚀坑的腐蚀显示及测量方法
- SJ 670-1983 DW-217电真空玻璃主要技术数据
- SJ/T 11571-2016 光伏组件用超薄玻璃
- GB 11297.11-1989 热释电材料介电常数的测试方法
- GB 11496.3-1989 彩色显示管用Y30-R1荧光粉
- GB/T 15155-1994 滤波器用压电陶瓷材料通用技术条件
- GB/T 4181-1997 钨丝
- GB/T 11297.11-2015 热释电材料介电常数的测试方法
- GB/T 41203-2021 光伏组件封装材料加速老化试验方法
- GB/T 5838.3-2015 荧光粉 第3部分:性能试验方法
- GB/T 17711-1999 钇钡铜氧(123相)超导薄膜临界温度Tc的直流电阻试验方法
- GB/T 11446.9-2013 电子级水中微粒的仪器测试方法
- GB/T 11446.7-1997 电子级水中痕量氯离子、硝酸根离子、磷酸根离子、硫酸根离子的离子色谱测试方法
- GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法
- JB/T 9493.2-1999 锰铜和新康铜电阻合金化学分析方法 硝酸氨氧化--硫酸亚铁铵滴定法测定锰量