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GB/T 25495-2010 吸气剂金属释放特性测试方法

Test methods for metal releasing characteristics of getters
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 25495-2010
  • 名称:
    吸气剂金属释放特性测试方法
  • 英文名称:
    Test methods for metal releasing characteristics of getters
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2010-12-01
  • 实施日期:
    2011-05-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【】
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分类信息
  • ICS分类:
    电子学(31) 电子技术专用材料(31.030)
  • CCS分类:
    电子元器件与信息技术(L) 电子设备与专用材料、零件、结构件(L90/94) 电子技术专用材料(L90)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    本标准是将以下标准整合后进行修订的:
    ———GB/T6626.1—1986《释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法》;
    ———GB/T9506.6—1988《掺氮吸气剂钡膜分布测试方法》;
    ———GB/T9506.2—1988《蒸散型钡吸气剂得钡量测试方法》。
    本标准与原标准相比主要变化如下:
    ———取消释汞吸气剂释汞特性的测试方法中的名词术语,在规范性引用文件中新增GB/T4314《吸气剂术语》;
    ———将GB/T6626.1—1986《释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法》与GB/T9506.2—1988《蒸散型钡吸气剂得钡量测试方法》中的测试系统、方法合并;
    ———取消试验设备中的无脂球阀;
    ———将试验中测试室的尺寸按使用用途分类改为按金属释放量分类;
    ———将释汞量、得钡量加热完后称重时间由15min更改为5min内;
    ———释汞特性曲线的测试由400℃开始提高到500℃开始;
    ———取消平均值、标准偏差的计算方法;
    ———取消得钡量一致性测试;
    ———取消测试报告格式;
    ———将GB/T9506.2—1988《蒸散型钡吸气剂得钡量测试方法》中的蒸散曲线绘制方法中的起蒸时间的控制表述进行修订;
    ———根据GB/T1.1—2000的要求进行格式修订。
    本标准代替下列标准:
    ———GB/T6626.1—1986《释汞吸气剂性能测试方法 释汞吸气剂释汞特性的测试方法》;
    ———GB/T9506.6—1988《掺氮吸气剂钡膜分布测试方法》;
    ———GB/T9506.2—1988《蒸散型钡吸气剂得钡量测试方法》。
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会提出并归口。
    本标准起草单位:南京华东赛斯真空材料有限公司、工业和信息化部电子工业标准化研究所、中国电子科技集团公司第十二研究所。
    本标准主要起草人:薛函迎、郭卫斌、张巨先、刘筠。
    本标准所代替标准的历次版本发布情况为:
    ———GB/T6626.1—1986;
    ———GB/T9506.6—1988;
    ———GB/T9506.2—1988。
  • 适用范围:
    本标准规定了吸气剂金属释放特性测试方法,如释汞吸气剂的总释汞量、标准释汞量、释汞特性曲线及热稳定性的测试方法、蒸散型钡吸气剂得钡量的测试方法、掺氮吸气剂钡膜分布测试方法。
    本标准适用于真空器件用吸气剂。
  • 引用标准:
    下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
    GB/T4314 吸气剂术语
    GB/T25494—2010 吸气剂成分分析测试方法
相关标准
  • 代替标准:
    GB/T 9506.6-1988 GB/T 6626.1-1986 GB/T 9506.2-1988
  • 引用标准:
    GB/T 4314 GB/T 25494-2010
相关部门
  • 起草单位:
    中国电子科技集团公司第十二研究所 南京华东赛斯真空材料有限公司 工业和信息化部电子工业标准化研究所
  • 提出部门:
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 归口单位:
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会
  • 主管部门:
    全国半导体设备和材料标准化技术委员会
相关人员
暂无
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