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DB35/T 1146-2011 福建省硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法

基本信息
  • 标准号:
    DB35/T 1146-2011
  • 名称:
    福建省硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
  • 公告名称:
    硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
  • 英文名称:
    暂无
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    地方标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2011-04-10
  • 实施日期:
    2011-07-10
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【2012年第1号(总第145号)】
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分类信息
  • ICS分类:
    电气工程(29) 半导体材料(29.045)
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 半金属与半导体材料综合(H80)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    暂无
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    暂无
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暂无
相关部门
  • 起草单位:
    中国科学院福建物质结构研究所
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暂无
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