收藏到云盘
纠错反馈
DB35/T 1146-2011 福建省硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
基本信息
-
标准号:
DB35/T 1146-2011
-
名称:
福建省硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
-
公告名称:
硅材料中杂质元素含量测定 辉光放电质谱法
-
英文名称:
暂无
-
状态:
现行
-
类型:
地方标准
-
性质:
推荐性
-
发布日期:
2011-04-10
-
实施日期:
2011-07-10
-
废止日期:
暂无
-
相关公告:
实施公告【2012年第1号(总第145号)】
-
-
阅读或下载
使用APP、PC客户端等功能更强大
-
网页在线阅读
体验阅读、搜索等基本功能
-
用户分享资源
来自网友们上传分享的文件
-
纸书购买
平台官方及网友推荐
分类信息
-
ICS分类:
【
电气工程(29)
半导体材料(29.045)
】
-
CCS分类:
【
冶金(H)
半金属与半导体材料(H80/84)
半金属与半导体材料综合(H80)
】
-
行标分类:
暂无
描述信息
相关标准
相关部门
相关人员
关联标准
-
GB/T 11070-2006
还原锗锭
-
GB/T 37053-2018
氮化镓外延片及衬底片通用规范
-
GB/T 14141-2009
硅外延层、扩散层和离子注入层薄层电阻的测定 直排四探针法
-
SJ/T 11498-2015
重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
-
GB/T 1553-2009
硅和锗体内少数载流子寿命测定光电导衰减法
-
GB/T 41652-2022
刻蚀机用硅电极及硅环
-
GB/T 30868-2014
碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
-
GB/T 25076-2018
太阳能电池用硅单晶
-
GB/T 31476-2015
电子装联高质量内部互连用焊料
-
GB/T 2881-2014e
工业硅
-
GB/T 20228-2006
砷化镓单晶
-
YS 68-2004
砷
-
GB/T 30855-2014
LED外延芯片用磷化镓衬底
-
YS/T 1167-2016
硅单晶腐蚀片
-
YS/T 28-1992
硅片包装
-
GB/T 26072-2010
太阳能电池用锗单晶
-
GB/T 6617-2009
硅片电阻率测定 扩展电阻探针法
-
GB/T 29506-2013
300mm 硅单晶抛光片
-
GB/T 31474-2015
电子装联高质量内部互连用助焊剂
-
SJ/T 11492-2015
光致发光法测定磷镓砷晶片的组分