收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 25186-2010 表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子

Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
基本信息
  • 标准号：
    GB/T 25186-2010
  • 名称：
    表面化学分析 二次离子质谱 - 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子
  • 英文名称：
    Surface chemical analysis - Secondary-ion mass spectrometry - Determination of relative sensitivity factors from ion-implanted reference materials
  • 状态：
    现行
  • 类型：
    国家标准
  • 性质：
    推荐性
  • 发布日期：
    2010-09-26
  • 实施日期：
    2011-08-01
  • 废止日期：
    暂无
  • 相关公告：
    实施公告【】
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准等同采用ISO18114:2003《表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子》。
    为了方便使用,本标准做了下列编辑性修改:
    ———用“本标准”代替“本国际标准”。
    本标准由全国微束分析标准化技术委员会提出并归口。
    本标准起草单位:信息产业部专用材料质量监督检验中心。
    本标准主要起草人:马农农、何友琴、何秀坤。
  • 适用范围：
    本标准指定了一种由离子注入参考物质确定二次离子质谱分析中相对灵敏度因子的方法。
    本标准适用于基体化学成分单一的样品，其中注入物质的峰值原子浓度不超过1%。
  • 引用标准：
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T22461—2008 表面化学分析 词汇(ISO18115:2001,IDT)
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 22461-2008
  • 采用标准：
    ISO 18114:2003 表面化学分析 二次离子质谱 由离子注入参考物质确定相对灵敏度因子 （等同采用 IDT）
相关部门
  • 提出部门：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 归口单位：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 主管部门：
    全国微束分析标准化技术委员会
  • 起草单位：
    信息产业部专用材料质量监督检验中心
相关人员
暂无
关联标准