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GB/T 26140-2010 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法

Non-destructive testing - Standards test method for determining residual stresses by neutron diffraction
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 26140-2010
  • 名称:
    无损检测 测量残余应力的中子衍射方法
  • 英文名称:
    Non-destructive testing - Standards test method for determining residual stresses by neutron diffraction
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2011-01-14
  • 实施日期:
    2011-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
分类信息
描述信息
  • 前言:
    本标准等同采用ISO/TS21432:2005《无损检测 测量残余应力的中子衍射方法》(英文版)。
    本标准等同翻译ISO/TS21432:2005。
    为便于使用,本标准作了如下修改:
    ———“本国际标准”一词改为“本标准”;
    ———删除国际标准的前言;
    ———将国际标准ISO/TS21432:2005/Cor.1:2008(E)技术勘误纳入本标准;
    ———用GB/T1.1—2000规定的引导语代替国际标准中的引导语;
    ———勘误了国际标准图1中图例2和图例3的错误,互换了图例2和图例3的内容;
    ———勘误了国际标准图2中对散射角的表述错误,将2θa 修改为2θ,相应的图例a 也修改为2θ;
    ———勘误了国际标准图8c)中SGV 质心的标示错误,将“O”改为“X”;
    ———勘误了国际标准附录A.5.1中的引用错误,将A.4.4改为A.4.5。
    本标准附录A 和附录B为资料性附录。
    本标准由全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC56)提出并归口。
    本标准起草单位:中国工程物理研究院核物理与化学研究所、上海泰司检测科技有限公司、上海诚友实业有限公司、上海威诚邦达检测技术有限公司、上海材料研究所。
    本标准主要起草人:陈波、孙光爱、黄朝强、熊智明、金宇飞。
  • 适用范围:
    暂无
  • 引用标准:
    下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件,其随后所有的修改单(不包括勘误的内容)或修订版均不适用于本标准,然而,鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件,其最新版本适用于本标准。
    EN13925-3 无损检测 多晶和非晶材料的X射线衍射 第3部分:仪器
相关标准
  • 引用标准:
    EN 13925-3
  • 采用标准:
    ISO/TS 21432:2005 无损检测 测量残余应力的中子衍射方法 (等同采用 IDT)
相关部门
  • 起草单位:
    上海材料研究所 中国工程物理研究院核物理与化学研究所 上海威诚邦达检测技术有限公司 上海泰司检测科技有限公司 上海诚友实业有限公司
  • 归口单位:
    全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
  • 主管部门:
    全国无损检测标准化技术委员会(SAC/TC 56)
相关人员
暂无