收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 26112-2010 微机电系统(MEMS)技术 微机械量评定总则

Micro-electromechanical system technology - General rules for the assessment of micro-mechanical parameters
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 26112-2010
  • 名称:
    微机电系统(MEMS)技术 微机械量评定总则
  • 英文名称:
    Micro-electromechanical system technology - General rules for the assessment of micro-mechanical parameters
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2011-01-10
  • 实施日期:
    2011-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《紧固件 质量保证体系》等410项国家标准的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    【 电子学(31) 集成电路、微电子学(31.200) 】
  • CCS分类:
    【 电子元器件与信息技术(L) 微电路(L55/59) 微电路综合(L55) 】
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。
    本标准由全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC336)提出并归口。
    本标准起草单位:天津大学、中机生产力促进中心、西安交通大学、大连理工大学、太原理工大学、中原工学院。
    本标准主要起草人:胡晓东、丁红宇、刘伟、张苹、景蔚宣、蒋庄德、刘冲、张文栋、赵则祥。
  • 适用范围:
    本标准规定了微机械量的评定基本原则、评定要素、评定程序、评定方法以及评定规则。
    本标准适用于企业、研究机构、检测机构从事微机电技术及产品的研究、设计、生产、检测及使用。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅所注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T26111 微机电系统(MEMS)技术 术语
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 26111
相关部门
  • 起草单位:
    大连理工大学 太原理工大学 西安交通大学 中机生产力促进中心 天津大学 中原工学院
  • 归口单位:
    全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
  • 主管部门:
    全国微机电技术标准化技术委员会(SAC/TC 336)
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 17024-1997 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第三篇 HCMOS数字集成电路54/74HC、54/74HCT、54/74HCU系列空白详细规范
  • GB/T 17571-1998 碱性二次电池和电池组 扣式密封镉镍可充整体电池组
  • GB/T 33929-2017 MEMS高g值加速度传感器性能试验方法
  • SJ/T 11700-2018 IP核质量信息描述方法
  • GB/T 35086-2018 MEMS电场传感器通用技术条件
  • SJ 50597/60-2004 半导体集成电路 JW117/JW150/JW138型三端可调正输出电压调整器详细规范
  • GB/T 34899-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于拉曼光谱法的微结构表面应力测试方法
  • GB/T 32817-2016 半导体器件 微机电器件 MEMS总规范
  • GB/T 17574.11-2006 半导体器件 集成电路 第2-11部分:数字集成电路 单电源集成电路电可擦可编程只读存储器 空白详细规范
  • GB/T 16466-1996 膜集成电路和混合膜集成电路空白详细规范(采用能力批准程序)
  • GB/T 35003-2018 非易失性存储器耐久和数据保持试验方法
  • GB/T 4855-1984 半导体集成电路线性放大器系列和品种
  • GB/T 9425-1988 半导体集成电路运算放大器空白详细规范 (可供认证用)
  • SJ 2817-1987 膜集成电路和混合集成电路外形尺寸
  • GB/T 33922-2017 MEMS压阻式压力敏感芯片性能的圆片级试验方法
  • GB/T 17574.20-2006 半导体器件 集成电路 第2-20部分:数字集成电路 低压集成电路族规范
  • GB/T 34894-2017 微机电系统(MEMS)技术 基于光学干涉的MEMS微结构应变梯度测量方法
  • GB/T 13069-1991 半导体集成电路系列和品种 数控机床用系列的品种
  • GB/T 9424-1998 半导体器件 集成电路 第2部分:数字集成电路 第五篇 CMOS数字集成电路4000B和4000UB系列空白详细规范
  • GB 11498-1989 膜集成电路和混合膜集成电路分规范(采用鉴定批准程序)(可供认证用)
用户分享资源

GB/T 26112-2010 微机电系统(MEMS)技术 微机械量评定总则

Micro-electromechanical system technolog...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 26112-2010 微机电系统(MEMS)技术 微机械量评定总则
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com