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GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片

Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells
基本信息
分类信息
描述信息
  • 前言：
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)归口。
    本标准起草单位:万向硅峰电子股份有限公司、上海九晶电子材料股份有限公司、西安隆基硅材料股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、江西赛维LDK 太阳能有限公司、杭州海纳半导体有限公司。
    本标准主要起草人:楼春兰、郑辉、蒋建国、张群社、孙世龙、黄笑容、王飞尧、段育红、朱兴萍、方强、汪贵发、余俊军、袁文强、金虹。
  • 适用范围：
    本标准规定了太阳能电池用硅单晶切割片(简称硅片)的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书与订货单内容。
    本标准适用于直拉法(CZ/MCZ)制备的地面太阳能电池用硅单晶切割片。
  • 引用标准：
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
    GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
    GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
    GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
    GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
    GB/T6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
    GB/T6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
    GB/T11073 硅片径向电阻率变化的测量方法
    GB/T14140 硅片直径测量方法
    GB/T14264 半导体材料术语
    GB/T25076 太阳电池用硅单晶
    GB/T26068 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
相关标准
  • 引用标准：
    GB/T 1550 GB/T 1552 GB/T 1555 GB/T 2828.1 GB/T 6616 GB/T 6618 GB/T 6620 GB/T 11073 GB/T 14140 GB/T 14264 GB/T 25076 GB/T 26068
相关部门
  • 归口单位：
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门：
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 起草单位：
    洛阳鸿泰半导体有限公司 无锡尚德太阳能电力有限公司 杭州海纳半导体有限公司 万向硅峰电子股份有限公司 西安隆基硅材料股份有限公司 上海九晶电子材料股份有限公司 江西赛维LDK太阳能有限公司
相关人员
暂无
关联标准