收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片

Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 26071-2010
  • 名称:
    太阳能电池用硅单晶切割片
  • 英文名称:
    Mono-crystalline silicon as cut slices for photovoltaic solar cells
  • 状态:
    废止
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2011-01-10
  • 实施日期:
    2011-10-01
  • 废止日期:
    2019-06-02
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《紧固件 质量保证体系》等410项国家标准的公告】
    修订公告【关于批准发布《中小学校普通教室照明设计安装卫生要求》等454项国家标准和6项国家标准修改单的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电气工程(29) 半导体材料(29.045)
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 半金属与半导体材料综合(H80)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)归口。
    本标准起草单位:万向硅峰电子股份有限公司、上海九晶电子材料股份有限公司、西安隆基硅材料股份有限公司、洛阳鸿泰半导体有限公司、无锡尚德太阳能电力有限公司、江西赛维LDK 太阳能有限公司、杭州海纳半导体有限公司。
    本标准主要起草人:楼春兰、郑辉、蒋建国、张群社、孙世龙、黄笑容、王飞尧、段育红、朱兴萍、方强、汪贵发、余俊军、袁文强、金虹。
  • 适用范围:
    本标准规定了太阳能电池用硅单晶切割片(简称硅片)的技术要求、试验方法、检验规则和标志、包装、运输、贮存及质量证明书与订货单内容。
    本标准适用于直拉法(CZ/MCZ)制备的地面太阳能电池用硅单晶切割片。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
    GB/T1552 硅、锗单晶电阻率测定 直排四探针法
    GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
    GB/T2828.1 计数抽样检验程序 第1部分:按接收质量限(AQL)检索的逐批检验抽样计划
    GB/T6616 半导体硅片电阻率及硅薄膜薄层电阻测定 非接触涡流法
    GB/T6618 硅片厚度和总厚度变化测试方法
    GB/T6620 硅片翘曲度非接触式测试方法
    GB/T11073 硅片径向电阻率变化的测量方法
    GB/T14140 硅片直径测量方法
    GB/T14264 半导体材料术语
    GB/T25076 太阳电池用硅单晶
    GB/T26068 硅片载流子复合寿命的无接触微波反射光电导衰减测试方法
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 1550 GB/T 1552 GB/T 1555 GB/T 2828.1 GB/T 6616 GB/T 6618 GB/T 6620 GB/T 11073 GB/T 14140 GB/T 14264 GB/T 25076 GB/T 26068
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 起草单位:
    洛阳鸿泰半导体有限公司 无锡尚德太阳能电力有限公司 杭州海纳半导体有限公司 万向硅峰电子股份有限公司 西安隆基硅材料股份有限公司 上海九晶电子材料股份有限公司 江西赛维LDK太阳能有限公司
相关人员
暂无
关联标准
  • YS/T 13-2015 高纯四氯化锗
  • YS/T 1167-2016 硅单晶腐蚀片
  • GB/T 29850-2013 光伏电池用硅材料补偿度测量方法
  • SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
  • GB/T 24580-2009 重掺n型硅衬底中硼沾污的二次离子质谱检测方法
  • GB/T 40561-2021 光伏硅材料 氧含量的测定 脉冲加热惰性气体熔融红外吸收法
  • GB/T 12965-1996 硅单晶切割片和研磨片
  • GB/T 29849-2013 光伏电池用硅材料表面金属杂质含量的电感耦合等离子体质谱测量方法
  • GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
  • GB/T 29054-2012 太阳能级铸造多晶硅块
  • SJ/T 11495-2015 硅中间隙氧的转换因子指南
  • GB/T 11071-2006 区熔锗锭
  • YS/T 986-2014 晶片正面系列字母数字标志规范
  • GB/T 13389-2014 掺硼掺磷掺砷硅单晶电阻率与掺杂剂浓度换算规程
  • GB/T 30110-2013 空间红外探测器碲镉汞外延材料参数测试方法
  • GB/T 8750-1997 半导体器件键合金丝
  • GB/T 30855-2014 LED外延芯片用磷化镓衬底
  • GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范
  • SJ/T 11488-2015 半绝缘砷化镓电阻率、霍尔系数和迁移率测试方法
  • GB/T 11094-2020 水平法砷化镓单晶及切割片
用户分享资源

GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片

Mono-crystalline silicon as cut slices f...
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 26071-2010 太阳能电池用硅单晶切割片
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com