收藏到云盘
纠错反馈

GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶

Germanium single crystal for solar cell
基本信息
  • 标准号:
    GB/T 26072-2010
  • 名称:
    太阳能电池用锗单晶
  • 英文名称:
    Germanium single crystal for solar cell
  • 状态:
    现行
  • 类型:
    国家标准
  • 性质:
    推荐性
  • 发布日期:
    2011-01-10
  • 实施日期:
    2011-10-01
  • 废止日期:
    暂无
  • 相关公告:
    实施公告【关于批准发布《紧固件 质量保证体系》等410项国家标准的公告】
    • 阅读或下载 使用APP、PC客户端等功能更强大
    • 网页在线阅读 体验阅读、搜索等基本功能
    • 用户分享资源 来自网友们上传分享的文件
    • 纸书购买 平台官方及网友推荐
分类信息
  • ICS分类:
    电气工程(29) 半导体材料(29.045)
  • CCS分类:
    冶金(H) 半金属与半导体材料(H80/84) 元素半导体材料(H82)
  • 行标分类:
    暂无
描述信息
  • 前言:
    本标准由全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC203/SC2)归口。
    本标准由云南临沧鑫圆锗业股份有限公司负责起草。
    本标准由南京中锗科技股份有限公司、云南中科鑫圆晶体材料有限公司、北京国晶辉红外光学科技有限公司、厦门乾照光电有限公司参加起草。
    本标准主要起草人:惠峰、普世坤、包文东、郑洪、张莉萍、孙小华、苏小平、王向武。
  • 适用范围:
    本标准规定了太阳能电池用锗单晶棒的术语、产品分类、技术要求、试验方法、检验规则及标志、包装、运输、贮存、质量证明书和订货单内容。
    本标准适用于垂直梯度凝固法(VGF)和直拉法(CZ)制备的太阳能电池用锗单晶滚圆棒。
  • 引用标准:
    下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件,仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文件。
    GB/T1550 非本征半导体材料导电类型测试方法
    GB/T1555 半导体单晶晶向测定方法
    GB/T4326 非本征半导体单晶 霍尔迁移率和霍尔系数测量方法
    GB/T5252 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法
    GB/T14264 半导体材料术语
    GB/T14844 半导体材料牌号表示方法
    GB/T26074 锗单晶电阻率直流四探针测量方法
相关标准
  • 引用标准:
    GB/T 1550 GB/T 1555 GB/T 4326 GB/T 5252 GB/T 14264 GB/T 14844 GB/T 26074
相关部门
  • 归口单位:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 主管部门:
    2) 全国半导体设备和材料标准化技术委员会材料分技术委员会(SAC/TC 203/SC
  • 起草单位:
    云南临沧鑫圆锗业股份有限公司
相关人员
暂无
关联标准
  • GB/T 25076-2018 太阳能电池用硅单晶
  • SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
  • SJ/T 11490-2015 低位错密度砷化镓抛光片蚀坑密度的测量方法
  • GB/T 20229-2006 磷化镓单晶
  • GB/T 30861-2014 太阳能电池用锗衬底片
  • YS 68-2004
  • GB/T 35308-2017 太阳能电池用锗基Ⅲ-Ⅴ族化合物外延片
  • GB/T 11094-2007 水平法砷化镓单晶及切割片
  • GB/T 35305-2017 太阳能电池用砷化镓单晶抛光片
  • GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
  • SJ/T 11502-2015 碳化硅单晶抛光片规范
  • GB/T 31474-2015 电子装联高质量内部互连用助焊剂
  • SJ 20866-2003 交叉辗压钼铼合金片规范
  • GB/T 1555-2009 半导体单晶晶向测定方法
  • GB/T 12964-2018 硅单晶抛光片
  • GB/T 14144-2009 硅晶体中间隙氧含量径向变化测量方法
  • SJ/T 11491-2015 短基线红外吸收光谱法测量硅中间隙氧含量
  • SJ/T 11498-2015 重掺硅衬底中氧浓度的二次离子质谱测量方法
  • GB/T 14146-2009 硅外延层载流子浓度测定 汞探针电容-电压法
  • GB/T 35310-2017 200mm硅外延片
用户分享资源

GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶

Germanium single crystal for solar cell
上传文件
注:本列表内文件主要来源于网友们的分享上传。如您发现有不正确不合适的内容,请及时联系客服
纠错反馈
GB/T 26072-2010 太阳能电池用锗单晶
提交反馈
分类列表
确定
上传文件
完全匿名 前台匿名 显示用户名 点击选择文件
{{uploadFile.name}} {{uploadFile.sizeStr}}
目前支持上传小于100MB的PDF、OCF、OCS格式文件
注:您上传文件即代表同意平台可以公开给所有用户下载。平台会根据您的选择及实际情况,为您发放相应的直接或分成奖励。平台也可以根据实际情况需要,对您上传到服务器的文件进行调整隐藏删除等,而无需通知到您。
联系客服

纸书购买链接招商中,联系客服入驻

客服QQ: 2449276725 1455033258

1098903864 1969329120

客服电话:0379-80883238

电子邮箱:ocsyun@126.com